Classification CIB

Code de classe (préfixe) Descriptions Nombre de résultats
  • Sections
  • G - Physique
  • G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
G01Q 10/00 Dispositions pour le balayage ou le positionnement, c. à d. dispositions pour commander de manière active le mouvement ou la position de la sonde
G01Q 10/02 Balayage ou positionnement grossier
G01Q 10/04 Balayage ou positionnement fin
G01Q 10/06 Circuits ou algorithmes à cet effet
G01Q 20/00 Contrôle du mouvement ou de la position de la sonde
G01Q 20/02 Contrôle du mouvement ou de la position de la sonde par des moyens optiques
G01Q 20/04 Sondes auto-détectrices, c. à d. dans lesquelles la sonde génère elle-même un signal représentatif de sa position, p.ex. jauge piézoélectrique
G01Q 30/00 Moyens auxiliaires destinés à assister ou améliorer les techniques ou les appareils à sonde à balayage, p.ex. dispositifs d’affichage ou de traitement de données
G01Q 30/02 Dispositifs d'analyse d’un type autre que la microscopie à sonde à balayage SPM, p.ex. microscope électronique à balayage SEM [Scanning Electron Microscope], spectromètre ou microscope optique
G01Q 30/04 Dispositifs d'affichage ou de traitement de données
G01Q 30/06 Dispositifs d'affichage ou de traitement de données pour compensation d'erreurs
G01Q 30/08 Moyens pour établir ou réguler des conditions ambiantes souhaitées au sein d'une enceinte d'échantillonnage
G01Q 30/10 Moyens pour établir ou réguler des conditions ambiantes souhaitées au sein d'une enceinte d'échantillonnage thermiques
G01Q 30/12 Moyens pour établir ou réguler des conditions ambiantes souhaitées au sein d'une enceinte d'échantillonnage avec fluide
G01Q 30/14 Moyens pour établir ou réguler des conditions ambiantes souhaitées au sein d'une enceinte d'échantillonnage avec fluide avec liquide
G01Q 30/16 Moyens pour établir ou réguler des conditions ambiantes souhaitées au sein d'une enceinte d'échantillonnage sous vide
G01Q 30/18 Moyens pour protéger ou isoler l'intérieur d'une enceinte d'échantillonnage contre les conditions ou les facteurs environnementaux externes, p.ex. les vibrations ou les champs électromagnétiques
G01Q 30/20 Dispositifs ou procédés de manipulation d'échantillons
G01Q 40/00 TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM] Étalonnage, p.ex. des sondes
G01Q 40/02 Leurs normes d'étalonnage ou procédés de fabrication
G01Q 60/00 Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
G01Q 60/02 Microscopie à sonde à balayage de type multiple, c. à d. incluant au moins deux techniques SPM
G01Q 60/04 Microscopie à effet tunnel à balayage STM [Scanning Tunnelling Microscopy] combinée avec la microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy]
G01Q 60/06 Microscopie optique à champ proche à balayage SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] combinée avec la microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy]
G01Q 60/08 Microscopie à forces magnétiques MFM [Magnetic Force Microscopy] combinée avec la microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy]
G01Q 60/10 Microscopie à effet tunnel à balayage STM [Scanning Tunnelling Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes STM
G01Q 60/12 Spectroscopie à effet tunnel à balayage STS [Scanning Tunnelling Spectroscopy]
G01Q 60/14 Potentiométrie à effet tunnel à balayage STP [Scanning Tunnelling Potentiometry]
G01Q 60/16 Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
G01Q 60/18 Microscopie optique à champ proche à balayage SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SNOM
G01Q 60/20 Fluorescence
G01Q 60/22 Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
G01Q 60/24 Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
G01Q 60/26 Microscopie à forces de frottement
G01Q 60/28 Microscopie à forces d'adhérence
G01Q 60/30 Microscopie à mesure de potentiel à balayage
G01Q 60/32 Mode vibrant
G01Q 60/34 Mode à contact périodique
G01Q 60/36 Mode statique
G01Q 60/38 Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
G01Q 60/40 Sondes conductrices
G01Q 60/42 Fonctionnalisation
G01Q 60/44 Microscopie à conductance ionique à balayage SICM [Scanning Ion-Conductance Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SICM
G01Q 60/46 Microscopie capacitive à balayage SCM [Scanning Capacitance Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SCM
G01Q 60/48 Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
G01Q 60/50 Microscopie à forces magnétiques MFM [Magnetic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes MFM
G01Q 60/52 Résonance
G01Q 60/54 Sondes, leur fabrication ou leur appareillage connexe, p.ex. supports
G01Q 60/56 Sondes à revêtement magnétique
G01Q 60/58 Microscopie thermique à balayage SThM [Scanning Thermal Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SThM
G01Q 60/60 Microscopie électrochimique à balayage SECM [Scanning Electro-Chemical Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SECM
G01Q 70/00 Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe
G01Q 70/02 Supports de sondes
G01Q 70/04 Supports de sondes à compensation des erreurs induites par la température ou les vibrations
G01Q 70/06 Réseaux de pointes de sondes
G01Q 70/08 Caractéristiques des sondes
G01Q 70/10 Forme ou cônicité
G01Q 70/12 Pointes de nanotubes
G01Q 70/14 Matériaux particuliers
G01Q 70/16 Fabrication des sondes
G01Q 70/18 Fonctionnalisation
G01Q 80/00 Applications des techniques de sonde à balayage, autres que les techniques SPM
G01Q 90/00 Techniques ou appareils à sonde à balayage non prévus ailleurs