- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02056 - Réduction passive d’ erreurs
Détention brevets de la classe G01B 9/02056
Brevets de cette classe: 85
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2973 |
10 |
| Omron Corporation | 7255 |
5 |
| ASML Netherlands B.V. | 7371 |
4 |
| Heidelberg Engineering GmbH | 63 |
3 |
| Leica Microsystems CMS GmbH | 1085 |
3 |
| Leica Microsystems Inc. | 23 |
3 |
| NinePoint Medical, Inc. | 34 |
3 |
| Alcon, Inc. | 5420 |
2 |
| Alfred E. Mann Institute for Biomedical Engineering at the University of Southern California | 41 |
2 |
| Avinger, Inc. | 133 |
2 |
| Mitutoyo Corporation | 1253 |
2 |
| PLX, Inc. | 68 |
2 |
| Lumentum Technology UK Limited | 86 |
2 |
| Chamartin Laboratories LLC | 23 |
2 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 145630 |
1 |
| Apple Inc. | 54714 |
1 |
| Canon U.S.A., Inc. | 528 |
1 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10418 |
1 |
| Seiko Epson Corporation | 19321 |
1 |
| Hitachi, Ltd. | 15467 |
1 |
| Autres propriétaires | 34 |