- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/085 - Structure fine d’absorption des rayons X [XAFS], p. ex. XAFS étendue [EXAFS]
Détention brevets de la classe G01N 23/085
Brevets de cette classe: 29
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Sigray, Inc. | 83 |
7 |
| Sumitomo Electric Industries, Ltd. | 15732 |
3 |
| Sumitomo Rubber Industries, Ltd. | 4674 |
3 |
| Applied Science Laboratory Co., Ltd | 2 |
2 |
| Easyxafs, LLC | 6 |
2 |
| Seiko Epson Corporation | 19675 |
1 |
| Tsinghua University | 6009 |
1 |
| Lawrence Livermore National Security, LLC | 1938 |
1 |
| DIC Corporation | 3838 |
1 |
| Inter-University Research Institute Corporation High Energy Accelerator Research Organization | 64 |
1 |
| Morgan State University | 86 |
1 |
| National University Corporation Hokkaido University | 1352 |
1 |
| Nuctech Company Limited | 1430 |
1 |
| Rigaku Corporation | 443 |
1 |
| University of Washington | 2376 |
1 |
| Atomic Oncology Pty Ltd | 4 |
1 |
| Nova Measuring Instruments Inc. | 69 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |