Beamsense Co., Ltd.

Japon

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Type PI
        Brevet 7
        Marque 4
Juridiction
        International 5
        États-Unis 4
        Europe 1
        Canada 1
Date
2023 1
2022 1
Avant 2021 9
Classe IPC
G01N 23/04 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et formant des images des matériaux 4
G01F 23/288 - Rayons XRayons gamma 2
G01N 23/10 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et mesurant l'absorption le matériau étant confiné dans un récipient, p. ex. scanners de bagage à rayons X 2
H05K 3/34 - Connexions soudées 2
G01B 15/00 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons 1
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1.

X-ray radioscope

      
Numéro d'application 18044454
Numéro de brevet 12360061
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-09-07
Date de la première publication 2023-11-16
Date d'octroi 2025-07-15
Propriétaire BEAMSENSE Co., Ltd. (Japon)
Inventeur(s) Baba, Sueki

Abrégé

An X-ray radioscope includes: an X-ray source that radially emits X-ray; a sample holder configured to hold a sample, the sample holder placed in front of the X-ray source in order for the sample to be irradiated by X-ray emitted from the X-ray source; a planar CCD including CCDs planarly arranged, the planar CCD being placed away from the sample holder to detect X-ray transmitted through the sample such that the planar CCD obtains X-ray transmission image of the sample; and a movement unit configured to move the planar CCD and the sample holder relative to each other in synchronization with obtaining the X-ray transmission image by the planar CCD, wherein the planar CCD has 500 or more pixels along the movement direction relative to the sample.

Classes IPC  ?

  • G01N 23/044 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et formant des images des matériaux en utilisant la laminographie ou la tomosynthèse
  • G01N 23/083 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et mesurant l'absorption le rayonnement consistant en rayons X
  • G01N 23/10 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et mesurant l'absorption le matériau étant confiné dans un récipient, p. ex. scanners de bagage à rayons X

2.

X-RAY FLUOROSCOPE

      
Numéro d'application JP2021032844
Numéro de publication 2022/054794
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2021-09-07
Date de publication 2022-03-17
Propriétaire BEAMSENSE CO., LTD. (Japon)
Inventeur(s) Baba, Sueki

Abrégé

Provided is an X-ray fluoroscope that has a short imaging time, suppresses overlapping of images of components in a width direction, and can obtain sufficient sensitivity even in a case of an X-ray source having insufficient X-ray intensity. The X-ray fluoroscope (10) comprises: an X-ray source (1) that irradiates with radial X rays (2); a sample holder (5) that holds a sample so that the surface of the sample (3) is irradiated with the radial X-rays; a planar CCD (6) in which a CCD that receives the X-rays transmitted through the surface of the sample is disposed in a planer shape at a location separated from the sample holder when viewed from the X-ray source, and which obtains an X-ray transmission image of the surface of the sample; and a moving unit (7) that allows the sample holder and the planar CCD to move relative to each other in synchronization with imaging by the planar CCD, wherein the planar CCD has 500 pixels or more in a direction of the relative movement with respect to the sample.

Classes IPC  ?

  • H04N 5/372 - Capteurs à dispositif à couplage de charge [CCD]; Registres d'intégration à temps de retard [TDI] ou registres à décalage spécialement adaptés au capteur SSIS
  • G01N 23/10 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et mesurant l'absorption le matériau étant confiné dans un récipient, p. ex. scanners de bagage à rayons X

3.

X-ray apparatus for measuring substance quantity

      
Numéro d'application 15518566
Numéro de brevet 10451565
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-08-11
Date de la première publication 2017-10-05
Date d'octroi 2019-10-22
Propriétaire BEAMSENSE Co., Ltd. (Japon)
Inventeur(s) Baba, Sueki

Abrégé

This X-ray apparatus for measuring a substance quantity includes: an X-ray irradiating unit for irradiating X-rays from above or below a container which contains a substance to be measured; an imaging unit which is disposed so as to face the X-ray irradiating unit with the container between the imaging unit and the X-ray irradiating unit, and which obtains image data on the basis of the transmitted X-rays passing through the container; and a substance quantity calculating unit which processes the obtained image data and calculates the quantity of the substance to be measured, on the basis of the intensity of the transmitted X-rays for each pixel in the container.

Classes IPC  ?

  • G01N 23/04 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et formant des images des matériaux
  • G01F 23/288 - Rayons XRayons gamma

4.

Void evaluation apparatus and void evaluation method in the solder

      
Numéro d'application 15034302
Numéro de brevet 09965849
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2014-11-10
Date de la première publication 2016-09-15
Date d'octroi 2018-05-08
Propriétaire
  • OSAKA UNIVERSITY (Japon)
  • BEAMSENSE Co., Ltd. (Japon)
Inventeur(s)
  • Suzuki, Takashi
  • Baba, Sueki

Abrégé

A void evaluation apparatus in a solder includes an evaluation function calculation unit for calculating a solder evaluation function by using a pixel value pi contained in the voids that is set to 1 and the pixel value pi not contained in the voids is 0 for each pixel constituting an image in the solder, and by using a weight function w(ri), which is maximum at a solder center (ri=0), and is 0 at a maximum radius (ri=r0) for a distance ri from the solder center. The apparatus further has a void evaluation unit for evaluating that the influence of voids is larger as the evaluation function is relatively larger for the each solder. w(ri): weighting function

Classes IPC  ?

  • G06K 9/00 - Méthodes ou dispositions pour la lecture ou la reconnaissance de caractères imprimés ou écrits ou pour la reconnaissance de formes, p.ex. d'empreintes digitales
  • G06T 7/00 - Analyse d'image
  • G01N 23/04 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et formant des images des matériaux
  • H05K 3/34 - Connexions soudées

5.

X-RAY APPARATUS FOR MEASURING SUBSTANCE QUANTITY

      
Numéro d'application JP2015072772
Numéro de publication 2016/059862
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-08-11
Date de publication 2016-04-21
Propriétaire BEAMSENSE CO., LTD. (Japon)
Inventeur(s) Baba, Sueki

Abrégé

This X-ray apparatus for measuring a substance quantity is provided with: an X-ray irradiating means for irradiating X-rays from above or below a container which contains a substance to be measured; an imaging means which is disposed so as to face the X-ray irradiating means with the container therebetween, and which obtains image data on the basis of the transmitted X-rays passing through the container; and a substance quantity calculating means which processes the obtained image data and calculates the quantity of the substance to be measured, on the basis of the intensity of the transmitted X-rays for each pixel in the container.

Classes IPC  ?

  • G01F 23/288 - Rayons XRayons gamma
  • G01N 23/04 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et formant des images des matériaux

6.

IMAGE RECONSTRUCTION DEVICE, IMAGE RECONSTRUCTION METHOD, AND PROGRAM

      
Numéro d'application JP2015054845
Numéro de publication 2015/129585
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-02-20
Date de publication 2015-09-03
Propriétaire
  • APPLIED VISION SYSTEMS CORPORATION (Japon)
  • BEAMSENSE CO., LTD. (Japon)
Inventeur(s)
  • Takahashi Hironobu
  • Fujimura Kouta

Abrégé

Starting at a given pixel point in a raw image and moving along a straight line that extends from said pixel point, a discrimination-region inference unit (112) searches for edges, and on the basis of the change in pixel values that occurs at the first detected edge, infers which of a number of discrimination regions the pixel point in question belongs to. A discrimination-region determination unit (113) counts how many times the discrimination-region inference unit (112) infers the pixel point in question to belong to each discrimination region using a large number of straight lines extending in different directions and determines the pixel point in question to belong to the discrimination region to which said pixel point was inferred to belong the greatest number of times. An image generation unit (114) generates a reconstructed image in which, for each pixel point in the raw image, a color corresponding to the discrimination region that the discrimination-region determination unit (113) determined said pixel point to belong to is used at the location of said pixel point.

Classes IPC  ?

  • G06T 1/00 - Traitement de données d'image, d'application générale
  • G06T 5/00 - Amélioration ou restauration d'image
  • G06T 7/60 - Analyse des attributs géométriques

7.

APPARATUS FOR ASSESSMENT OF VOIDS IN SOLDER AND METHOD FOR ASSESSMENT OF VOIDS IN SOLDER

      
Numéro d'application JP2014079717
Numéro de publication 2015/072424
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2014-11-10
Date de publication 2015-05-21
Propriétaire
  • OSAKA UNIVERSITY (Japon)
  • BEAMSENSE CO., LTD. (Japon)
Inventeur(s)
  • Suzuki, Takashi
  • Baba, Sueki

Abrégé

An apparatus for assessing voids in solder comprises: a function calculation unit that processes the pixels constituting an image of the interior of a piece of solder such that the pixels in the voids have a pixel value pi of 1 and the pixels not in the voids have a pixel value pi of 0 and uses a weighting function w (ri) for the distance ri from the center of the piece of solder, the maximum of the function being at the center of the piece of solder (ri = 0) and the minimum being at the maximum radius (ri = r0), to calculate the following void assessment function, where i represents pixel number (1-N), pi represents pixel value (0 or 1), and w(ri) represents the weighting function; and a void assessment unit which performs assessment for each piece of solder in a manner such that the greater the relative size of the assessment function the greater the influence of the voids.

Classes IPC  ?

  • G01N 23/04 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en transmettant la radiation à travers le matériau et formant des images des matériaux
  • G01B 15/00 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons
  • G01B 15/08 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
  • H05K 3/34 - Connexions soudées

8.

BEAMSENSE

      
Numéro d'application 163395900
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2013-07-04
Date d'enregistrement 2019-06-18
Propriétaire Beamsense Co., Ltd. (Japon)
Classes de Nice  ? 09 - Appareils et instruments scientifiques et électriques

Produits et services

(1) Scientific models and specimens namely, X-ray image analysis simulators, for use as teaching aids for training skills of inspections of X-ray radiographic image or X-ray computed tomography image; planimeters; measuring rules; gravimeters; densimeters; profile projectors; graduation checkers [calibration checkers]; metal compression testing machines; metal hardness testing machines; metal strength testing machines; rubber testing machines; concrete testing machines; cement testing machines; textile testing machines; plastic testing machines; lumber testing machines; distance measuring machines or apparatus [range finders]; x-rays tubes [not for medical use]; industrial x-ray machines and apparatus [not for medical use]. X-ray apparatus for industrial purposes (not for medical use) which apparatus is used for the purpose of (a) measuring thickness, consistency and density of materials, (b) research and development of materials, and (c) determining defective material.

9.

BEAMSENSE

      
Numéro de série 85972656
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2013-06-28
Date d'enregistrement 2017-03-21
Propriétaire BEAMSENSE CO., LTD. (Japon)
Classes de Nice  ? 09 - Appareils et instruments scientifiques et électriques

Produits et services

scientific models and specimens, namely, X-ray image analysis simulators, for use as teaching aids for training skills of inspections of X-ray radiographic image or X-ray computed tomography image

10.

BEAMSENSE

      
Numéro d'application 011941424
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2013-06-28
Date d'enregistrement 2014-01-16
Propriétaire BEAMSENSE Co., Ltd. (Japon)
Classes de Nice  ? 09 - Appareils et instruments scientifiques et électriques

Produits et services

Scientific models and specimens, namely, X-ray image analysis simulators, for use as teaching aids for training skills of inspections of X-ray radiographic image or X-ray computed tomography image; planimeters; measuring rules; gravimeters; densimeters; profile projectors; graduation checkers [calibration checkers]; screw-thread measuring machines and instruments; metal compression testing machines; metal hardness testing machines; metal strength testing machines; rubber testing machines; concrete testing machines; cement testing machines; textile testing machines; plastic testing machines; lumber testing machines; distance measuring machines or apparatus [range finders]; x-rays tubes [not for medical use]; industrial x-ray machines and apparatus [not for medical use].

11.

SMARTROENTGEN

      
Numéro d'application 1131772
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2012-08-24
Date d'enregistrement 2012-08-24
Propriétaire BEAMSENSE Co., Ltd. (Japon)
Classes de Nice  ? 09 - Appareils et instruments scientifiques et électriques

Produits et services

Scientific models and specimens; planimeters; measuring rules; gravimeters; densimeters; profile projectors; graduation checkers [calibration checkers]; screw-thread measuring machines and instruments; metal compression testing machines; metal hardness testing machines; metal strength testing machines; rubber testing machines; concrete testing machines; cement testing machines; textile testing machines; plastic testing machines; lumber testing machines; distance measuring machines or apparatus [range finders]; X-rays tubes [not for medical use]; industrial X-ray machines and apparatus [not for medical use].