Kaneko Corporation

Japon

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Classe IPC
E01B 35/02 - Applications des appareils ou dispositifs de mesure à la construction des voies pour l'espacementApplications des appareils ou dispositifs de mesure à la construction des voies pour le nivellement transversalApplications des appareils ou dispositifs de mesure à la construction des voies pour tracer les courbes 1
G01B 21/00 - Dispositions pour la mesure ou leurs détails, où la technique de mesure n'est pas couverte par les autres groupes de la présente sous-classe, est non spécifiée ou est non significative 1
G06F 17/10 - Opérations mathématiques complexes 1
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1.

METHOD FOR PROCESSING OF OFFSET MEASURED VERSINE AND OTHER OFFSET MEASUREMENT DATA, AND SYSTEM FOR EXECUTING SAID METHOD

      
Numéro d'application JP2016075556
Numéro de publication 2017/051677
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-08-31
Date de publication 2017-03-30
Propriétaire
  • WEST JAPAN RAILWAY COMPANY (Japon)
  • RAILTECH CO., LTD. (Japon)
  • KANEKO CORPORATION (Japon)
Inventeur(s)
  • Ehara, Gaku
  • Yatabe, Shunsuke
  • Fujita, Yoshihiro
  • Kashima, Takahiro

Abrégé

The purpose of the present invention is to process offset measurement data with a simple calculation. Provided is a measurement data standing wave component extraction method which extracts a standing wave component from measurement data. The measurement data is data of n elements which are measured in prescribed space or time intervals, and expressed with an n-dimensional vector x. The method comprises a matrix computation step of computing an n-dimensional eigenspace matrix Si (where i is an integer greater than or equal to 1 and less than or equal to n), and an extraction step of computing the product of the eigenspace matrix Si and the vector x and extracting from the measurement data the ith longest standing wave component Six. In the matrix computation step, Si,(j,k), the (i,k) component of the eigenspace matrix Si, is computed with the following formula: Si,(j,k) = (2/(n+1)) × sin(iπj/(n+1)) × sin(iπk/(n+1))

Classes IPC  ?

  • G06F 17/10 - Opérations mathématiques complexes
  • E01B 35/02 - Applications des appareils ou dispositifs de mesure à la construction des voies pour l'espacementApplications des appareils ou dispositifs de mesure à la construction des voies pour le nivellement transversalApplications des appareils ou dispositifs de mesure à la construction des voies pour tracer les courbes
  • G01B 21/00 - Dispositions pour la mesure ou leurs détails, où la technique de mesure n'est pas couverte par les autres groupes de la présente sous-classe, est non spécifiée ou est non significative