Si-ware Systems

États‑Unis d’Amérique

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2026 (AACJ) 1
2025 1
2024 1
2023 6
2022 6
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Classe IPC
G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives 16
G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes 11
G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge 10
G01B 9/02 - Interféromètres 8
G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence 7
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Résultats pour  brevets

1.

AUTOREFERENCED AND SELF-ADJUSTED SPECTRAL SENSOR

      
Numéro d'application US2025047507
Numéro de publication 2026/064772
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2025-09-23
Date de publication 2026-03-26
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser M.
  • Gaber, Mohamed Ahmed
  • Mortada, Bassem
  • Hamouda, Mohamed
  • Shebl, Ahmed
  • Gad Seif, Mina
  • Mahmoud, Sara
  • Ghazala, Ali
  • Mosbeh, Asmaa
  • Deutsch, Erik R.
  • Erfan, Mazen
  • Labib, Shady

Abrégé

Aspects relate to a self-calibrated and self-referenced spectral sensor. The spectral sensor includes an optical head that includes a light source configured to produce input light, an optical window above the light source and through which the input light is directed towards a sample in a sample measurement mode, and a reflection flag (for self-calibration and self-referencing) that is moveable between a first position beneath the optical window within a light path of the input light in a reference measurement mode and a second position away from the light path in the sample measurement mode. The spectral sensor further includes an optical core module and a processor configured to produce a reference PSD in the reference measurement mode and a sample PSD in the sample measurement mode. The processor is further configured to correct the sample PSD based on the reference PSD to produce a sample spectrum.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/28 - Étude du spectre
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes
  • G01N 21/27 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en utilisant la détection photo-électrique

2.

OPTICAL SPECTROSCOPY WITH CONTROLLED PATH LENGTH FOR NON-INVASIVE MEASUREMENT THROUGH SKIN

      
Numéro d'application US2025013744
Numéro de publication 2025/239950
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2025-01-30
Date de publication 2025-11-20
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Othman, Ahmed M.
  • Mortada, Bassem
  • Saadany, Bassam
  • Khalil, Diaa
  • Haddara, Hisham
  • Sabry, Yasser M.
  • Labib, Shady
  • Gaber, Mohamed Ahmed

Abrégé

Aspects relate to mechanisms to control the effective optical path length through skin tissue for non-invasive optical spectroscopy measurements. An apparatus can include a path length control part configured to control the effective optical path length of diffusely scattered light transmitted through skin tissue to produce a target effective optical path length. The apparatus may further include a spectral sensor, a detector, and a light source configured to produce input light directed towards the path length control part or the spectral sensor. The detector is configured to obtain a spectrum of an analyte under test based on the diffusely scattered light. The spectral sensor is configured to either receive the input light, produce modulated light based on the input light, and direct the modulated light to the skin tissue, or to receive the diffusely scattered light from the skin tissue and obtain the spectrum using the detector.

Classes IPC  ?

  • A61B 5/00 - Mesure servant à établir un diagnostic Identification des individus

3.

DIFFUSE MULTI-REFLECTION OPTICAL DEVICE WITH LIGHT RE-DIRECTION FOR SPECTROMETER COLLECTION

      
Numéro d'application US2023073340
Numéro de publication 2024/050529
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-09-01
Date de publication 2024-03-07
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sadek Radwan, Mohamed
  • Mortada, Bassem
  • Labib, Shady
  • Medhat, Mostafa
  • Sabry, Yasser M.
  • Erfan, Mazen

Abrégé

Aspects relate to mechanisms for enhancing the coupling of scattered light from a sample under test into a spectrometer. An optical device can include a reflective surface positioned apart from the sample and configured to receive a first portion of scattered light from the sample and to redirect the first portion of the scattered light back to one or more discrete spots on the sample in a non-random manner to produce redirected scattered light from the sample. The spectrometer may then be configured to receive coupled light from the sample including at least a portion of the redirected scattered light.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/25 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01N 21/31 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique
  • G01N 21/47 - Dispersion, c.-à-d. réflexion diffuse
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge
  • G01N 21/84 - Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières

4.

OPTO-ELECTRICAL PROBE CARD PLATFORM FOR WAFER-LEVEL TESTING OF OPTICAL MEMS STRUCTURES

      
Numéro d'application US2023024320
Numéro de publication 2023/235586
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-06-02
Date de publication 2023-12-07
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Zeinah, Tarek Mohamed
  • Mortada, Bassem
  • Anwar, Momen
  • Ramadan, Mohamed
  • Hamouda, Mohamed
  • Sabry, Yasser M.
  • Khalil, Diaa
  • Shebl, Ahmed
  • Saadany, Bassam
  • Emad, Ahmed
  • Badr, Mohamed
  • Elmassry, Moez

Abrégé

Aspects of the disclosure relate to an apparatus including an opto-electrical probe card platform for wafer-level testing of optical micro-electro-mechanical-systems (MEMS) structures. The probe card platform includes an electrical probe card including alignment needles for aligning with an optical MEMS structure during testing thereof. The probe card platform further includes an optical head configured to direct input light to towards the optical MEMS structure through the electrical probe card and an optical positioner attached to the electrical probe card and configured to align the optical head. The apparatus may further include a camera and a processor configured to process at least one image obtained by the camera and to generate alignment assistance data to assist the optical positioner in aligning the optical head.

Classes IPC  ?

  • G05B 19/402 - Commande numérique [CN], c.-à-d. machines fonctionnant automatiquement, en particulier machines-outils, p. ex. dans un milieu de fabrication industriel, afin d'effectuer un positionnement, un mouvement ou des actions coordonnées au moyen de données d'un programme sous forme numérique caractérisée par des dispositions de commande pour le positionnement, p. ex. centrage d'un outil par rapport à un trou dans la pièce à usiner, moyens de détection additionnels pour corriger la position
  • G01R 31/26 - Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs

5.

GENERALIZED ARTIFICIAL INTELLIGENCE MODELER FOR ULTRA-WIDE-SCALE DEPLOYMENT OF SPECTRAL DEVICES

      
Numéro d'application US2023016101
Numéro de publication 2023/183499
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2023-03-23
Date de publication 2023-09-28
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser M.
  • Mortada, Bassem
  • Abozyd, Samir
  • Medhat, Mostafa
  • Said, Mai
  • Saadany, Bassam
  • Helmy, Youssri
  • Badr, Ahmed
  • Pujolras, Marcal Plans

Abrégé

Aspects relate to a spectral modeling system (700) for building chemometrics or calibration models for spectral devices targeting ultra-wide-scale deployment. The spectral modeling system (700) includes a spectral converter (714) for generating a plurality of artificial spectra (716) using spectral data (706) of a plurality of samples measured by a subset (704) of a plurality of spectral devices (702) and spectral device characteristics (712) representing spectral variations in the plurality of spectral devices (702). The spectral modeling system (700) further includes a chemometrics engine (718) for generating a chemometrics model (720) for one or more parameters associated with the plurality of samples based on the spectral data (706) and the plurality of artificial spectra (716).

Classes IPC  ?

  • G01N 21/31 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique
  • G01N 21/27 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en utilisant la détection photo-électrique
  • G01J 3/28 - Étude du spectre
  • G01B 9/02055 - Réduction ou prévention d’erreursTestÉtalonnage
  • G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge
  • G01N 21/3504 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse des gaz, p. ex. analyse de mélanges de gaz
  • G01N 21/3563 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse de solidesPréparation des échantillons à cet effet
  • G01N 21/3577 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse de liquides, p. ex. l'eau polluée
  • G01N 21/359 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge proche

6.

ON-LINE COMPENSATION OF INSTRUMENTAL RESPONSE DRIFT IN MINIATURIZED SPECTROMETERS

      
Numéro d'application US2022050469
Numéro de publication 2023/091709
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-11-18
Date de publication 2023-05-25
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Mortada, Bassem
  • Sabry, Yasser M.
  • Abozyd, Samir

Abrégé

Aspects relate to on-line compensation of instrumental drifts in miniaturized spectrometers due to variations in environmental conditions and due to other sources of instrumental drift. The spectrometer may include a light modulator, a detector, and a processor. The spectrometer may further include a sensor configured to obtain a value of a condition contributing to instrumental drifts in the spectrometer. The processor may be configured to extract a set of correction parameters from a correction matrix associating a plurality of sets of correction parameters with sensor values based on the value and to apply the set of correction parameters to an output of the detector to produce a corrected spectrum of a sample under test. The correction matrix may be generated for the spectrometer or may be based on a global correction matrix fitted to the spectrometer.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01N 21/27 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en utilisant la détection photo-électrique

7.

HANDHELD OPTICAL SPECTROSCOPY SCANNER

      
Numéro d'application US2022042723
Numéro de publication 2023/038948
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-09-07
Date de publication 2023-03-16
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Shenouda, Botros George Iskander
  • Zeinah, Tarek Mohamed
  • Mortada, Bassem
  • Sabry, Yasser M.
  • Saadany, Bassam
  • Abuelnaga, Hussien
  • Gad Seif, Mina
  • Sadek Radwan, Mohamed
  • Al-Haron, Mohamed H.
  • Medhat, Mostafa
  • El-Arabawy, Mohamed

Abrégé

Aspects relate to a handheld spectroscopy scanner including an optical window configured to receive a sample and a housing having the optical window thereon. The housing further includes therein a light source and a spectral sensor including a light modulator and a detector. The scanner housing further includes a processor configured to receive a spectrum of the sample from the spectral sensor based on interaction of light produced by the light source with the sample on the optical window. The processor is further configured to produce spectral data based on the sample spectrum for input to an artificial intelligence engine to produce a result based on the spectral data. In addition, the scanner housing may include a flange holding the light source and a heat sink configured to dissipate the internal heat generated. The housing further includes a cavity forming a handle for easy operation of the handheld spectroscopy scanner.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence
  • G01N 21/47 - Dispersion, c.-à-d. réflexion diffuse
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge

8.

COMPACT SPECTRAL ANALYZER

      
Numéro d'application US2022038912
Numéro de publication 2023/009840
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-07-29
Date de publication 2023-02-02
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser M.
  • Al Haron, Mohamed H.
  • Mortada, Bassem
  • Othman, Ahmed
  • Khalil, Diaa
  • Saadany, Bassam
  • Shebl, Ahmed
  • Shenouda, Botros George Iskander

Abrégé

Aspects relate to a spectral analyzer that can be used for biological sample detection. The spectral analyzer includes an optical window configured to receive a sample and a spectral sensor including a chassis having various component assembled thereon. Examples of components may include a light source, a light modulator, illumination and collection optical elements, a detector, and a processor. The spectral analyzer is configured to obtain spectral data representative of a spectrum of the sample using, for example, an artificial intelligence (Al) engine. The spectral analyzer further includes a thermal separator positioned between the light modulator and the light source.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge

9.

SELF-CALIBRATED SPECTROSCOPIC AND AI-BASED GAS ANALYZER

      
Numéro d'application US2022036257
Numéro de publication 2023/283266
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-07-06
Date de publication 2023-01-12
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser M.
  • Mortada, Bassem
  • Al Haron, Mohamed H.
  • Anwar, Momen
  • Youssef, Mohamed Metwally
  • Erfan, Mazen
  • Deutsch, Erik R.

Abrégé

Aspects relate to a compact and low-cost gas analyzer that can be used for different types of gas analysis, such as air quality analysis. The gas analyzer can include a light source, a gas cell configured to receive a sample (e.g., a gas under test), a spectral sensor including a spectrometer and a detector, and an artificial intelligence (AI) engine. Light can enter the gas cell and interact with the sample to produce output light that may be measured by the spectral sensor. The resulting spectrum produced by the spectral sensor may be analyzed by the AI engine to produce a result. The gas analyzer further includes a self-calibration component configured to enable calibration of the sample spectrum to compensate for spectral drift of the spectral sensor.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/03 - Détails de structure des cuvettes
  • G01N 21/27 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en utilisant la détection photo-électrique
  • G01N 21/3504 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse des gaz, p. ex. analyse de mélanges de gaz
  • G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence
  • G01J 3/28 - Étude du spectre

10.

OPTICAL FLUID ANALYZER

      
Numéro d'application US2022033435
Numéro de publication 2022/266098
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-06-14
Date de publication 2022-12-22
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Anwar, Momen
  • Al Haron, Mohamed H.
  • Sabry, Yasser M.
  • Sakr, Mohamed

Abrégé

Aspects relate to an optical fluid analyzer including a fluid cell configured to receive a sample fluid. The optical fluid analyzer further includes optical elements configured to seal the fluid cell on opposing sides thereof and to allow input light from a light source to be sent through the fluid cell and output light from the fluid cell to be input to a spectrometer. The optical fluid analyzer further includes a machine learning (ML) engine, such as an artificial intelligence (AI) engine, that is configured to generate a result defining at least one parameter of the fluid based on a spectrum produced by the spectrometer.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/3504 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse des gaz, p. ex. analyse de mélanges de gaz
  • G01N 21/03 - Détails de structure des cuvettes
  • G01N 21/05 - Cuvettes à circulation de fluides

11.

COMPACT SPECTROSCOPIC ANALYZER DEVICE

      
Numéro d'application US2022033833
Numéro de publication 2022/266349
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-06-16
Date de publication 2022-12-22
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser M.
  • Anwar, Momen
  • Osama, Amr
  • Al Haron, Mohamed H.
  • Mohamed, Moustafa
  • Kilany, Mohamed
  • Erfan, Mazen
  • Saadany, Bassam
  • Khalil, Diaa
  • Mortada, Bassem
  • Deutsch, Erik R.

Abrégé

Aspects relate to a spectroscopic analyzer device that can be used for biological sample detection, and specifically for virus infection detection. The spectroscopic analyzer device includes a spectrometer, such as a micro-electro-mechanical systems (MEMS) based infrared spectrometer, and an artificial intelligence (AI) for screening of viral samples. In addition, the spectroscopic analyzer device includes a light source and a disposable optical component configured to receive a sample and to facilitate light interaction with the sample.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge
  • G01N 21/552 - Réflexion totale atténuée
  • G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence

12.

MASS SCREENING OF BIOLOGICAL SAMPLES USING PORTABLE SPECTROMETER

      
Numéro d'application US2022012602
Numéro de publication 2022/260714
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-01-14
Date de publication 2022-12-15
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Deutsch, Erik, R.
  • Saadany, Bassam
  • Mortada, Bassem, A.
  • Al Haron, Mohamed, H.
  • Erfan, Mazen
  • Mohamed, Moustafa
  • Sadek, Mohammed
  • Medhat, Mostafa
  • Shebl, Ahmed

Abrégé

Aspects relate to mechanisms for mass screening of samples. A portable laboratory device (300) based on spectroscopic analysis of samples containing analytes under test can facilitate the mass screening. The portable laboratory device (300) includes a sample head (312) including a structure configured to facilitate application of the sample to the sample head (312) and an optical measurement device (304) including one or more light sources (306) and a spectrometer (308). Light (322) from the light source(s) (306) incident on the sample may be directed (324) to the spectrometer (308) to obtain a spectrum (326) of the sample. The optical measurement device (304) can further include a data transfer device (310) configured to provide the spectrum (326) obtained by the spectrometer (308) to a spectrum analyzer (320) to produce a result (328) from the spectrum (326).

Classes IPC  ?

  • G01N 21/31 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique
  • G01N 21/25 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
  • G01N 21/01 - Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
  • G01N 21/359 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge en utilisant la lumière de l'infrarouge proche
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge
  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives

13.

LARGE SPOT SIZE SPECTROMETER

      
Numéro d'application US2022031772
Numéro de publication 2022/256408
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-06-01
Date de publication 2022-12-08
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sadek, Mohamed
  • Labib, Shady
  • Medhat, Mostafa
  • Mortada, Bassem A.
  • Zeinah, Tarek Mohamed
  • Sabry, Yasser M.
  • Saadany, Bassam
  • Haron, Mohamed H. Al
  • Gaber, Mohamed Ahmed

Abrégé

Portable optical device (100) providing a large spot size spectrometer. The optical device includes an optical head (102), an optical window (106), and a spectrometer (104). The optical head (102) includes a plastic moulded part (105) having an aperture (115) and a plurality of reflectors (112) around the aperture (115) formed therein. Each reflector (130) may include a respective lamp (110) assembled therein. The optical window (106) is configured to receive a sample (108), to pass input light (128) from the lamps (130) to the sample (108) and to pass scattered light from the sample (108) towards the aperture (115). The aperture (115) is configured to filter a first portion of scattered light containing unusable sample information and to pass a second portion of the scattered light to the spectrometer (104).

Classes IPC  ?

  • G01N 21/47 - Dispersion, c.-à-d. réflexion diffuse
  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/10 - Aménagements de sources lumineuses spécialement adaptées à la spectrométrie ou à la colorimétrie

14.

INTEGRATED EVANESCENT WAVE SPECTRAL SENSING DEVICE

      
Numéro d'application US2022016532
Numéro de publication 2022/177940
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-02-16
Date de publication 2022-08-25
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser M.
  • Ghoname, Amr O.
  • Anwar, Momen
  • Khalil, Diaa

Abrégé

Aspects relate to an integrated and compact attenuated total internal reflection (ATR) spectral sensing device (200). The spectral sensing device (200) includes a substrate (202), a spectrometer (204), and a detector (206). The substrate (202) includes an ATR element (214), a microfluidic channel (208), and a channel interface at a boundary (216) between the ATR element (214) and the microfluidic channel (208) formed therein. The ATR element (214) is configured to receive input light (220) and to direct the input light (220) to the channel interface for total internal reflection of the input light (220) at the channel interface. An evanescent wave produced by a sample contained within the microfluidic channel based on the total internal reflection of the input light (220) attenuates the light output from the ATR element (214) and the resulting output light (222) may be analyzed using the spectrometer (204) and the detector (206).

Classes IPC  ?

  • G01N 21/552 - Réflexion totale atténuée
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge
  • G01N 21/3577 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse de liquides, p. ex. l'eau polluée

15.

COMPACT MATERIAL ANALYZER

      
Numéro d'application US2022014866
Numéro de publication 2022/169814
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2022-02-02
Date de publication 2022-08-11
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Mortada, Bassem, A.
  • Hassan, Khaled
  • Salem, Abdelrahman Ahmed, Maher Mohamed Eisayed
  • Khalil, Diaa
  • Al Haron, Mohamed, H.
  • Elsheikh, Mohammed, Ahmed
  • Shebl, Ahmed
  • Saadany, Bassam
  • Medhat, Mostafa
  • Shenouda, Botros George, Iskander

Abrégé

Aspects relate to a compact material analyzer including a light source, a detector, and a module including a first optical window on a first side of the module, a second optical window on a second side of the module opposite the first side, and a light modulator. The light source produces input light at a high power that is passed through the first optical window to the light modulator. The light modulator is configured to attenuate the input light, produce modulated light based on the input light, and direct the modulated light through the second optical window to the sample. The modulated light produced by the light modulator is at a lower power safe for the sample. The detector is configured to receive output light from the sample produced from interaction with the modulated light through the second optical window and to detect a spectrum of the output light.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/25 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
  • G01N 21/3563 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse de solidesPréparation des échantillons à cet effet
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge

16.

INCREASED SPECTROMETER FIELD OF VIEW

      
Numéro d'application US2020042410
Numéro de publication 2021/011820
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-07-16
Date de publication 2021-01-21
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sadek, Mohamed Ahmed
  • Labib, Shady
  • Medhat, Mostafa
  • Mortada, Bassem

Abrégé

Aspects relate to mechanisms for increasing the field of view of a spectrometer. An optical device may be configured to simultaneously couple light from different locations (spots) on a sample to the spectrometer to effectively increase the spectrometer field of view. The optical device can include a beam combiner and at least one reflector to reflect light beams from respective spots on the sample towards the beam combiner. The beam combiner can combine the received light beams from the different spots to produce a combined light beam that may be input to the spectrometer.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/10 - Aménagements de sources lumineuses spécialement adaptées à la spectrométrie ou à la colorimétrie

17.

INTEGRATED DEVICE FOR FLUID ANALYSIS

      
Numéro d'application US2020034970
Numéro de publication 2020/243341
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-05-28
Date de publication 2020-12-03
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Fathy, Alaa
  • Khalil, Diaa, Abdelmaguid
  • Bourouina, Tarik
  • Saadany, Bassam, A.

Abrégé

Aspects relate to a miniaturized gas cell that may be implemented into an integrated device for gas analysis. The miniaturized gas cell may be a multi-pass gas cell or a hollow waveguide gas cell. In some aspects, the miniaturized gas cell may include a bottom surface and sidewalls formed in a substrate (e.g., a silicon substrate or silicon on insulator (SOI) substrate). The gas cell further includes at least one gas inlet and at least one gas outlet coupled for injection of a gas into and out of the gas cell, respectively. In addition, the gas cell further includes an optical input and an optical output, each optically coupled to direct light into and out of the gas cell, respectively. In addition, a capping layer may be bonded to the substrate to form a top surface of the gas cell.

Classes IPC  ?

  • G01N 21/39 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant des lasers à longueur d'onde réglable
  • G01N 27/407 - Cellules et sondes avec des électrolytes solides pour la recherche ou l'analyse de gaz
  • G01N 33/497 - Analyse physique de matériau biologique de matériau biologique gazeux, p. ex. de l'haleine
  • G01N 21/3504 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge pour l'analyse des gaz, p. ex. analyse de mélanges de gaz
  • G01N 21/03 - Détails de structure des cuvettes
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge

18.

COMPACT MULTI-PASS GAS CELL FOR MULTI-GAS SPECTRAL SENSORS

      
Numéro d'application US2020020962
Numéro de publication 2020/180972
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-03-04
Date de publication 2020-09-10
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser M.
  • Sakr, Mohammad
  • Saadany, Bassam A.
  • Anwar, Momen
  • Al Haron, Mohamed H.

Abrégé

Aspects of the disclosure relate to a multi-pass gas cell that includes a set of two or more reflectors, an input collimating optical component, and an output focusing optical component. The input and output optical components are integrated with at least one of the two or more reflectors. For example, the input and output optical components may be integrated on opposite ends of a single one of the reflectors or may be integrated on the same end of a single reflector. The input and output optical components may further be integrated with different reflectors. In some examples, the set of reflectors and optical components may be fabricated within the same substrate.

Classes IPC  ?

19.

SELF-REFERENCED SPECTROMETER

      
Numéro d'application US2019025021
Numéro de publication 2019/191698
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-03-29
Date de publication 2019-10-03
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Medhat, Mostafa
  • Mortada, Bassem
  • Sabry, Yasser, M.
  • Hossam, Mohamed
  • Anwar, Momen
  • Shebl, Ahmed
  • Haddara, Hisham
  • Saadany, Bassam, A.

Abrégé

Aspects of the disclosure relate to a self-referenced spectrometer for providing simultaneous measurement of a background or reference spectral density and a sample or other spectral density. The self-referenced spectrometer includes an interferometer optically coupled to receive an input beam and to direct the input beam along a first optical path to produce a first interfering beam and a second optical path to produce a second interfering beam, where each interfering beam is produced prior to an output of the interferometer. The spectrometer further includes a detector optically coupled to simultaneously detect a first interference signal produced from the first interfering beam and a second interference signal produced from the second interfering beam, and a processor configured to process the first interference signal and the second interference signal and to utilize the second interference signal as a reference signal in processing the first interference signal.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/10 - Aménagements de sources lumineuses spécialement adaptées à la spectrométrie ou à la colorimétrie
  • G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence
  • G01J 3/26 - Production du spectreMonochromateurs en utilisant une réflexion multiple, p. ex. interféromètre de Fabry-Perot, filtre à interférences variables
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes
  • G01B 9/02 - Interféromètres
  • G02B 26/08 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander la direction de la lumière
  • G02B 17/02 - Systèmes catoptriques, p. ex. systèmes redressant et renversant une image

20.

INTEGRATED OPTICAL PROBE CARD AND SYSTEM FOR BATCH TESTING OF OPTICAL MEMS STRUCTURES WITH IN-PLANE OPTICAL AXIS USING MICRO-OPTICAL BENCH COMPONENTS

      
Numéro d'application US2017062854
Numéro de publication 2018/094407
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-11-21
Date de publication 2018-05-24
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Saadany, Bassam
  • Medhat, Mostafa
  • Nagi, Muhammad
  • Shebl, Ahmed
  • Sabry, Yasser, M.
  • Mortada, Bassem
  • Kahlil, Diaa

Abrégé

Aspects of the disclosure relate to an integrated optical probe card and a system for performing wafer testing of optical micro-electro-mechanical systems (MEMS) structures with an in-plane optical axis. On- wafer optical screening of optical MEMS structures may be performed utilizing one or more micro-optical bench components to redirect light between an out-of-plane direction that is perpendicular to the in-plane optical axis to an in-plane direction that is parallel to the in-plane optical axis to enable testing of the optical MEMS structures with vertical injection of the light.

Classes IPC  ?

  • G01M 11/00 - Test des appareils optiquesTest des structures ou des ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
  • G01R 31/311 - Test sans contact utilisant des rayonnements électromagnétiques non ionisants, p. ex. des rayonnements optiques de circuits intégrés
  • G02B 5/04 - Prismes

21.

INTEGRATED SPECTRAL UNIT

      
Numéro d'application US2017037684
Numéro de publication 2017/218778
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-06-15
Date de publication 2017-12-21
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Khalil, Diaa Abdel, Maged
  • Medhat, Mostafa
  • Haddara, Hisham
  • Saadany, Bassam
  • Hassan, Khaled

Abrégé

Aspects of the disclosure relate to an Integrated spectral unit including a micro- electro-mechanical systems (MEMS) interferometer fabricated within a first substrate arid a light redirecting structure- integrated on a second substrate, where the second substrate is coupled to the first substrate. The light redirecting structure includes at least one mirror for receiving an input light beam propagating in an out-of-plane direction with, respect to the first substrate and redirecting the input light beam to an in-plane direction with respect to the first substrate towards the MEMS interferometer.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/26 - Production du spectreMonochromateurs en utilisant une réflexion multiple, p. ex. interféromètre de Fabry-Perot, filtre à interférences variables

22.

SELF CALIBRATION FOR MIRROR POSITIONING IN OPTICAL MEMS INTERFEROMETERS

      
Numéro d'application US2016028144
Numéro de publication 2017/105539
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-04-18
Date de publication 2017-06-22
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Anwar, Momen
  • Medhat, Mostafa
  • Mortada, Bassem
  • El Shater, Ahmed, Othman
  • Gad Seif, Mina
  • Nagy, Muhammed
  • Saadany, Bassam, A.
  • Hafez, Amr, N.

Abrégé

A Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) apparatus provides for self- calibration of mirror positioning of a moveable mirror of an interferometer. At least one mirror in the MEMS apparatus includes a non-planar surface. The moveable mirror is coupled to a MEMS actuator having a variable capacitance. The MEMS apparatus includes a capacitive sensing circuit for determining the capacitance of the MEMS actuator at multiple reference positions of the moveable mirror corresponding to a center burst and one or more secondary bursts of an interferogram produced by the interferometer based on the non-planar surface. A calibration module uses the actuator capacitances at the reference positions to compensate for any drift in the capacitive sensing circuit.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/06 - Systèmes de balayage
  • G01B 9/02 - Interféromètres
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes

23.

STRUCTURED SILICON-BASED THERMAL EMITTER

      
Numéro d'application US2016041357
Numéro de publication 2017/011269
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-07-07
Date de publication 2017-01-19
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Khalil, Diaa
  • Bourouina, Tarik, E.
  • Anwar, Momen

Abrégé

An optical radiation source produced from a disordered semiconductor material, such as black silicon, is provided. The optical radiation source includes a semiconductor substrate, a disordered semiconductor structure etched in the semiconductor substrate and a heating element disposed proximal to the disordered semiconductor structure and configured to heat the disordered semiconductor structure to a temperature at which the disordered semiconductor structure emits thermal infrared radiation.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/10 - Aménagements de sources lumineuses spécialement adaptées à la spectrométrie ou à la colorimétrie
  • G01J 3/26 - Production du spectreMonochromateurs en utilisant une réflexion multiple, p. ex. interféromètre de Fabry-Perot, filtre à interférences variables
  • G01J 3/42 - Spectrométrie d'absorptionSpectrométrie à double faisceauSpectrométrie par scintillementSpectrométrie par réflexion
  • H01K 1/14 - Corps à incandescence caractérisés par la forme
  • H01K 1/04 - Corps à incandescence caractérisés par le matériau constitutif
  • H01L 49/00 - Dispositifs à l'état solide non couverts par les groupes  et  et non couverts par une autre sous-classe; Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de ces dispositifs ou de leurs parties constitutives

24.

COMPENSATING TEMPERATURE NULL CHARACTERISTICS OF SELF-COMPENSATED OSCILLATORS

      
Numéro d'application US2016024567
Numéro de publication 2016/160729
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-03-28
Date de publication 2016-10-06
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Mikhael, David, H.G.
  • Elkhouly, Ahmed
  • Helmy, Ahmed
  • Eldin, Mohamed A.S.
  • El-Aassar, Omar Essam
  • Sinoussi, Nabil
  • Elsayed, Ahmed
  • Bahry, Mohamed Abd El-Moneim

Abrégé

Techniques are described that enables controlling the TNULL characteristic of a self- compensated oscillator by controlling the magnitude and direction of the frequency deviation versus temperature, and thus, compensating the frequency deviation.

Classes IPC  ?

  • H03B 5/04 - Modifications du générateur pour compenser des variations dans les grandeurs physiques, p. ex. alimentation, charge, température
  • H03B 5/08 - Éléments déterminant la fréquence comportant des inductances ou des capacités localisées

25.

HIGH PERFORMANCE SPECTROMETER DEVICE WITH PARALLEL INTERFEROMETERS

      
Numéro d'application US2016015819
Numéro de publication 2016/153599
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-01-29
Date de publication 2016-09-29
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Khalil, Diaa
  • Saadany, Bassam, A.
  • Sabry, Yasser, M.

Abrégé

A spectrometer with increased optical throughput and/or spectral resolution includes a plurality of interferometers coupled in parallel. An optical splitter divides a source light beam into a plurality of input beams and directs each of the input beams to a respective one of the plurality of interferometers. One or more detectors are optically coupled to receive a respective output from each of the plurality of interferometers and is configured to detect an interferogram produced as a result of the outputs.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes
  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/26 - Production du spectreMonochromateurs en utilisant une réflexion multiple, p. ex. interféromètre de Fabry-Perot, filtre à interférences variables

26.

MICRO-OPTICAL BENCH DEVICE WITH HIGHLY/SELECTIVELY-CONTROLLED OPTICAL SURFACES

      
Numéro d'application US2016018810
Numéro de publication 2016/134334
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-02-19
Date de publication 2016-08-25
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Saadany, Bassam, A.
  • Sabry, Yasser, M.
  • Medhat, Mostafa
  • Mortada, Bassem
  • Nagi, Muhammed
  • Sadek, Mohamed
  • Nada, Yasseen
  • Hassan, Khaled

Abrégé

A micro-optical bench device is fabricated by a process that provides control over one or more properties of the micro-optical bench device and/or one or more properties of optical surfaces in the micro-optical bench device. The process includes etching a substrate to form a permanent structure including optical elements and a temporary structure. The shape of the temporary structure and gaps between the temporary structure and permanent structure facilitate control of a property of the micro-optical bench and/or optical surfaces therein. The process further includes removing the temporary structure from an optical path of the micro- optical bench device.

Classes IPC  ?

  • B81C 1/00 - Fabrication ou traitement de dispositifs ou de systèmes dans ou sur un substrat
  • G01B 9/02 - Interféromètres
  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes

27.

SELECTIVE STEP COVERAGE FOR MICRO-FABRICATED STRUCTURES

      
Numéro d'application US2016018802
Numéro de publication 2016/134329
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-02-19
Date de publication 2016-08-25
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Medhat, Mostafa
  • Mortada, Bassem
  • Sabry, Yasser
  • Nazeer, Sebastian
  • Nada, Yasseen
  • Sadek, Mohamed
  • Saadany, Bassam, A.

Abrégé

A shadow mask having two or more levels of openings enables selective step coverage of micro-fabricated structures within a micro-optical bench device. The shadow mask includes a first opening within a top surface of the shadow mask and a second opening within the bottom surface of the shadow mask. The second opening is aligned with the first opening and has a second width less than a first width of the first opening. An overlap between the first opening and the second opening forms a hole within the shadow mask through which selective coating of micro-fabricated structures within the micro-optical bench device may occur.

Classes IPC  ?

  • B81C 1/00 - Fabrication ou traitement de dispositifs ou de systèmes dans ou sur un substrat
  • C23C 14/04 - Revêtement de parties déterminées de la surface, p. ex. au moyen de masques

28.

RING MIRROR OPTICAL ROTATION SENSOR

      
Numéro d'application US2014054948
Numéro de publication 2015/038613
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2014-09-10
Date de publication 2015-03-19
Propriétaire
  • SI-WARE SYSTEMS (USA)
  • KING ABDULAZIZ CITY FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY (Arabie saoudite)
Inventeur(s)
  • Shalaby, Mohamed Yehia
  • Abdel Salam, Kamal Mohammed Khalil
  • Afifi, Abdelrahman Emad El-Deen Hussien Mohammed
  • Khalil, Diaa Abdel Maged
  • Mohamed Ahmed, Khaled Hassan
  • Alarifi, Faris Saad
  • Al-Otaibi, Mohammed Jary

Abrégé

An optical rotation sensor includes a Fabry Perot laser having an active gain medium for generating first and second light beams, a closed optical path through which the first and second light beams counter-propagate and first and second mirrors coupled to respective ends of the closed optical path. The first mirror is a ring mirror having a complex valued reflectivity that varies with a rotation rate of a frame within which the optical rotation sensor is placed. A detector is coupled to an output of the Fabry Perot laser to measure an output intensity thereof.

Classes IPC  ?

29.

INTEGRATED APERTURED MICROMIRROR AND APPLICATIONS THEREOF

      
Numéro d'application US2014030268
Numéro de publication 2014/153284
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2014-03-17
Date de publication 2014-09-25
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Khalil, Diaa Abdel, Maged
  • Sadek, Mohamed

Abrégé

An integrated apertured micromirror is provided in which the micromirror is monolithically integrated with a micro-optical bench fabricated on a substrate using a lithographic and deep etching technique. The micromirror has an aperture therein and is oriented such that the micromirror is optically coupled to receive an incident beam having an optical axis in a plane of the substrate and to at least partially transmit the incident beam therethrough via the aperture.

Classes IPC  ?

  • B81B 5/00 - Dispositifs comportant des éléments mobiles les uns par rapport aux autres, p. ex. comportant des éléments coulissants ou rotatifs
  • G02B 6/35 - Moyens de couplage optique comportant des moyens de commutation
  • G02B 6/24 - Couplage de guides de lumière
  • G02B 26/02 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité de la lumière
  • G02B 6/293 - Moyens de couplage optique ayant des bus de données, c.-à-d. plusieurs guides d'ondes interconnectés et assurant un système bidirectionnel par nature en mélangeant et divisant les signaux avec des moyens de sélection de la longueur d'onde
  • G02B 26/00 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables
  • G02B 6/36 - Moyens de couplage mécaniques
  • G01J 1/04 - Pièces optiques ou mécaniques
  • G02B 1/00 - Éléments optiques caractérisés par la substance dont ils sont faitsRevêtements optiques pour éléments optiques
  • G01B 9/02 - Interféromètres
  • G02B 6/26 - Moyens de couplage optique

30.

CAPACITIVE MICRO-MACHINED SENSOR FORCE-FEEDBACK MODE INTERFACE SYSTEM

      
Numéro d'application US2014019009
Numéro de publication 2014/134300
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2014-02-27
Date de publication 2014-09-04
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Ismail, Ayman
  • Elshennawy, Ahmed
  • Mokhtar, Ahmed
  • Elsayed, Ayman

Abrégé

Operating capacitive sensors in force feedback mode has many benefits, such as improved bandwidth, and lower sensitivity to process and temperature variation. To overcome, the non- linearity of the voltage-to-force relation in capacitive feedback, a two-level feedback signal is often used. Therefore, a single-bit Σ-Δ modulator represents a practical way to implement capacitive sensors interface circuits. However, high-Q parasitic modes that exist in high-Q sensors (operating in vacuum) cause a stability problem for the Σ-Δ loop, and hence, limit the applicability of Σ-Δ technique to such sensors. A solution is provided that allows stabilizing the Σ-Δ loop, in the presence of high-Q parasitic modes. The solution is applicable to low or high order Σ-Δ based interfaces for capacitive sensors.

Classes IPC  ?

31.

SINGLE INSERTION TRIMMING OF HIGHLY ACCURATE REFERENCE OSCILLATORS

      
Numéro d'application US2014017098
Numéro de publication 2014/130525
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2014-02-19
Date de publication 2014-08-28
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Elkholy, Ahmed
  • Ahmed, Ayman

Abrégé

A highly integrated monolithic self-compensated oscillator (SCO) with high frequency stability versus temperature variations is described, together with a cost effective single insertion point trimming (SPT) algorithm. The SPT is utilized to adjust the phase and frequency of the SCO to meet frequency stability versus temperature and frequency accuracy requirements for a reference clock.. The techniques used in the SPT algorithm provide a robust, fast and low testing cost for the SCO. Moreover, the concepts and techniques utilized in the SCO SPT can be used effectively for any temperature compensated oscillator (TCO) including TCXO, MEMS, FBAR and RC oscillators. Additionally, the described SPT algorithm is capable of measuring the temperature sensitivity of any oscillator, estimating suitable temperature compensation parameters and adjusting the oscillator frequency to the required value simultaneously.

Classes IPC  ?

  • H03L 7/00 - Commande automatique de fréquence ou de phaseSynchronisation

32.

SELF CALIBRATION FOR MIRROR POSITIONING IN OPTICAL MEMS INTERFEROMETERS

      
Numéro d'application US2014013399
Numéro de publication 2014/117158
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2014-01-28
Date de publication 2014-07-31
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Medhat, Mostafa
  • Mortada, Bassem
  • El Shater, Ahmed Othman
  • Nagy, Muhammed
  • Gad Seif, Mina
  • Saadany, Bassam A.
  • Hafez, Amr N.

Abrégé

A Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) interferometer provides for self-calibration of mirror positioning of a moveable mirror. The moveable mirror is coupled to a MEMS actuator having a variable capacitance. The MEMS interferometor includes a capacitive sensing circuit for determining the capacitance of the MEMS actuator at two or more known positions of the moveable mirror and a calibration module for using the actuator capacitances at the known positions to compensate for any drift in the capacitive sensing circuit.

Classes IPC  ?

  • G02B 26/06 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander la phase de la lumière
  • G01J 3/06 - Systèmes de balayage
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes
  • G02B 26/08 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander la direction de la lumière
  • G01N 21/35 - CouleurPropriétés spectrales, c.-à-d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p. ex. spectrométrie d'absorption atomique en utilisant la lumière infrarouge
  • G01B 9/02 - Interféromètres

33.

SPATIAL SPLITTING-BASED OPTICAL MEMS INTERFEROMETERS

      
Numéro d'application US2013024714
Numéro de publication 2014/107174
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-02-05
Date de publication 2014-07-10
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Mortada, Bassem
  • Khalil, Diaa, Abdel, Maged
  • Saadany, Bassam, A.

Abrégé

A spatial splitting-based optical Micro Electro-Mechanical Systems (MEMS) Interferometer includes a spatial splitter for spatially splitting an input beam into two interferometer beams and a spatial combiner for spatially combining the two interferometer beams. A MEMS moveable mirror is provided to produce an optical path difference between the first interferometer beam and the second interferometer beam.

Classes IPC  ?

  • G01B 9/02 - Interféromètres
  • G01J 9/02 - Mesure du déphasage des rayons lumineuxRecherche du degré de cohérenceMesure de la longueur d'onde des rayons lumineux par des méthodes interférométriques
  • G02B 27/14 - Systèmes divisant ou combinant des faisceaux fonctionnant uniquement par réflexion
  • G02B 27/16 - Systèmes divisant ou combinant des faisceaux utilisés comme moyens auxiliaires pour la mise au point
  • G02B 26/08 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander la direction de la lumière
  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives

34.

FOURIER TRANSFORM MICRO SPECTROMETER BASED ON SPATIALLY-SHIFTED INTERFEROGRAM BURSTS

      
Numéro d'application US2013063816
Numéro de publication 2014/074254
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-10-08
Date de publication 2014-05-15
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Khalil, Diaa, A. M.
  • Saadany, Bassam, A.

Abrégé

A spectrometer with improved resolution includes a spectral domain modulator having a periodic response in the spectral domain to modulate a wideband source spectrum and cause one or more shifted bursts in the interferogram.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/26 - Production du spectreMonochromateurs en utilisant une réflexion multiple, p. ex. interféromètre de Fabry-Perot, filtre à interférences variables
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes

35.

METHOD AND APPARATUS TO CONTROL THE LC TANK TEMPERATURE NULL CHARACTERISTIC IN A HIGHLY STABLE LC OSCILLATOR

      
Numéro d'application US2013052765
Numéro de publication 2014/025575
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-07-30
Date de publication 2014-02-13
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sinoussi, Nabil, M.
  • Wg
  • Helmy, Ahmed, A.
  • Razek, Ahmed, H.A.
  • Ahmed, Ayman

Abrégé

A substantially temperature-independent LC-based oscillator uses bias control techniques. Temperature independence may be achieved by controlling the harmonic frequency content of the output of the oscillator by controlling the amplitude. Amplitude control may be achieved by inserting a control mechanism in the feedback loop of the oscillator. The present invention generally relates to oscillators which provide a highly stable output frequency across a wide range of temperature variation.

Classes IPC  ?

  • H03L 1/02 - Stabilisation du signal de sortie du générateur contre les variations de valeurs physiques, p. ex. de l'alimentation en énergie contre les variations de température uniquement

36.

TEMPERATURE-STABLE LC OSCILLATORS AND METHODS OF OSCILLATION AT TEMPERATURE NULL PHASE

      
Numéro d'application US2013053553
Numéro de publication 2014/025659
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-08-05
Date de publication 2014-02-13
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sinoussi, Nabil, M.
  • Hanafi, Bassel

Abrégé

An LC oscillator tank that generates a tank oscillation at a phase substantially equal to a temperature null phase. The oscillator further includes frequency stabilizer circuitry coupled to the LC oscillator tank to cause the LC oscillator tank to operate at the temperature null phase. In one aspect of the disclosure, a feedback loop may split the output voltage of the LC tank into two voltages having different phases, where each voltage is independently transformed into a current through programmable transconductors, The two currents may be combined to form a resultant current which is then applied to the LC tank. The phase of the resultant current is such that the LC tank operates at an impedance condition that achieves frequency stability across temperature.

Classes IPC  ?

  • H03L 1/04 - Détails structurels destinés à maintenir la température constante

37.

ASPHERICAL OPTICAL SURFACES AND OPTICAL SCANNERS

      
Numéro d'application US2013051053
Numéro de publication 2014/015123
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-07-18
Date de publication 2014-01-23
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Khalil, Diaa, Abdel, Maged
  • Saadany, Bassam, A.
  • Bourouina, Tarik, E.

Abrégé

Optical systems with aspherical optical elements are described. The aspherical optical elements have surfaces in which the in-plane radius of curvature spatially varies and the in-plane cross section surface profile is characterized in that the multiplication of the cosine of the incidence angle raised to a non-zero exponent by the in-plane radius of curvature varies less than twenty percent between any two points on the in-plane cross section surface profile.

Classes IPC  ?

38.

SELF-BIASED AMPLITUDE-CONTROLLED OSCILLATOR WITH CONSTANT HARMONIC CONTENT

      
Numéro d'application US2013049023
Numéro de publication 2014/008231
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2013-07-02
Date de publication 2014-01-09
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s) Sinoussi, Nabil, M.

Abrégé

Oscillators are described that have a highly stable output frequency versus the variation of supply voltage and different operating conditions such as temperature. The concepts are broadly applicable to various types of oscillators. The highly stable output is achieved with the use of self biasing loops. The circuits associated with providing constant harmonic output current can be used with the concept of a phi-null oscillator to further stabilize the output frequency.

Classes IPC  ?

  • H03L 7/00 - Commande automatique de fréquence ou de phaseSynchronisation

39.

INTEGRATED MONOLITHIC OPTICAL BENCH CONTAINING 3-D CURVED OPTICAL ELEMENTS AND METHODS OF ITS FABRICATION

      
Numéro d'application US2012061078
Numéro de publication 2013/059633
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2012-10-19
Date de publication 2013-04-25
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Sabry, Yasser, M.
  • Bourouina, Tarik, E.
  • Saadany, Bassam, A.
  • Khalil, Diaa, A.M.

Abrégé

An optical system, such as an integrated monolithic optical bench (100), includes a three-dimensional curved optical element (110) etched in a substrate (200) such that the optical axis (140) of the optical system lies within the substrate and is parallel to the plane of the substrate.

Classes IPC  ?

  • G02B 26/08 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander la direction de la lumière
  • G02B 6/12 - Guides de lumièreDétails de structure de dispositions comprenant des guides de lumière et d'autres éléments optiques, p. ex. des moyens de couplage du type guide d'ondes optiques du genre à circuit intégré

40.

MEMS BASED RING LASER GYROSCOPE WITH REDUCED LOCK-IN

      
Numéro d'application US2012058017
Numéro de publication 2013/049639
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2012-09-28
Date de publication 2013-04-04
Propriétaire
  • SI-WARE SYSTEMS (USA)
  • KING ABDULAZIZ CITY FOR SCIENCE & TECHNOLOGY (Arabie saoudite)
Inventeur(s)
  • Khalil, Diaa, A.M.
  • Mohamed Ahmed, Khaled, Hassan
  • Shebl Salem, Ahmed, Saeed
  • Alayed, Mrwan
  • Aljekhedab, Fahad

Abrégé

A ring laser gyroscope (RLG) includes moveable mirrors and a Micro-Electro- Mechanical Systems (MEMS) actuator coupled to the moveable mirrors to cause a respective displacement thereof that induces a phase modulation on counter-propagating light beams relative to one another. The induced phase modulation creates an optical path difference between the counter-propagating light beams corresponding to a virtual rotation that reduces the lock-in of the RLG.

Classes IPC  ?

  • G01C 19/66 - Gyromètres à laser en anneau
  • G01C 19/70 - Prévention du verrouillage par des moyens mécaniques

41.

A TECHNIQUE TO DETERMINE MIRROR POSITION IN OPTICAL INTERFEROMETERS

      
Numéro d'application US2011027686
Numéro de publication 2011/112676
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2011-03-09
Date de publication 2011-09-15
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Haddara, Hisham
  • Saadany, Bassam, A.
  • Hafez, Amr, N.
  • Medhat, Mostafa

Abrégé

A Micro Electro-Mechanical System (MEMS) interferometer system utilizes a capacitive sensing circuit to determine the position of a moveable mirror. An electrostatic MEMS actuator is coupled to the moveable mirror to cause a displacement thereof. The capacitive sensing circuit senses the current capacitance of the MEMS actuator and determines the position of the moveable mirror based on the current capacitance of the MEMS actuator.

Classes IPC  ?

  • G02B 26/08 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander la direction de la lumière
  • G01B 9/02 - Interféromètres
  • G01B 7/14 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques électriques ou magnétiques pour mesurer la distance ou la marge entre des objets ou des ouvertures espacés

42.

INTERFEROMETER WITH VARIABLE OPTICAL PATH LENGTH REFERENCE MIRROR AND APPLICATIONS THEREOF

      
Numéro d'application US2011021681
Numéro de publication 2011/091012
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2011-01-19
Date de publication 2011-07-28
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Khalil, Diaa, A.
  • Saadany, Bassam, A.

Abrégé

An interferometer includes a variable optical path length reference mirror to produce a final interferogram from a combination of interferograms. Each of the interferograms is generated at a different optical path length of the reference mirror.

Classes IPC  ?

  • G01B 9/02 - Interféromètres
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes

43.

COMPENSATED MEMS FTIR SPECTROMETER ARCHITECTURE

      
Numéro d'application US2010048169
Numéro de publication 2011/031791
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2010-09-08
Date de publication 2011-03-17
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Khalil, Diaa A.
  • Mortada, Bassem
  • Nabil, Mohamed
  • Medhat, Mostafa
  • Saadany, Bassam A.

Abrégé

A Micro Electro-Mechanical System (MEMS) spectrometer architecture compensates for verticality and dispersion problems using balancing interfaces. A MEMS spectrometer/interferometer includes a beam splitter formed on a first surface of a first medium at an interface between the first medium and a second medium, a first mirror formed on a second surface of the first medium, a second mirror formed on a third surface of the first medium and balancing interfaces designed to minimize both a difference in tilt angles between the surfaces and a difference in phase errors between beams reflected from the first and second mirrors.

Classes IPC  ?

  • G01J 3/02 - SpectrométrieSpectrophotométrieMonochromateursMesure de la couleur Parties constitutives
  • G01J 3/45 - Spectrométrie par interférence
  • G01J 3/453 - Spectrométrie par interférence par corrélation des amplitudes

44.

LONG TRAVEL RANGE MEMS ACTUATOR

      
Numéro d'application US2010031380
Numéro de publication 2010/121121
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2010-04-16
Date de publication 2010-10-21
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Medhat, Mostafa
  • Nada, Yasseen
  • Mortada, Bassem
  • Saadany, Bassam, A.

Abrégé

An electrostatic comb drive actuator for a MEMS device includes a flexure spring assembly and first and second comb drive assemblies, each coupled to the flexure spring assembly on opposing sides thereof. Each of the first and second comb assemblies includes fixed comb drive fingers and moveable comb drive fingers coupled to the flexure spring assembly and extending towards the fixed comb drive fingers. The comb drive fingers are divided equally between the first and second comb drive assemblies and placed symmetrically about a symmetry axis of the flexure spring assembly. When electrically energized, the moveable comb drive fingers of both the first and second comb drive assemblies simultaneously move towards the fixed comb drive fingers of the first and second comb drive assemblies.

Classes IPC  ?

  • B81B 3/00 - Dispositifs comportant des éléments flexibles ou déformables, p. ex. comportant des membranes ou des lamelles élastiques

45.

ULTRA WIDE ANGLE MEMS SCANNER ARCHITECTURE

      
Numéro d'application US2010031416
Numéro de publication 2010/121148
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2010-04-16
Date de publication 2010-10-21
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Khalil, Diaa, A., M.
  • Haddara, Hisham

Abrégé

An optical microscanner achieves wide rotation angles utilizing a curved reflector. The optical microscanner includes a moveable mirror for receiving an incident beam and reflecting the incident beam to produce a reflected beam and a Micro Electro-Mechanical System (MEMS) actuator that causes a linear displacement of the moveable mirror. The curved reflector produces an angular rotation of the reflected beam based on the linear displacement of the moveable mirror.

Classes IPC  ?

  • G02B 26/08 - Dispositifs ou dispositions optiques pour la commande de la lumière utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander la direction de la lumière
  • G02B 26/10 - Systèmes de balayage
  • G02B 26/12 - Systèmes de balayage utilisant des miroirs à facettes multiples
  • G01J 3/28 - Étude du spectre
  • H04N 3/09 - Détails des dispositifs de balayage des systèmes de télévisionLeur combinaison avec la production des tensions d'alimentation par des moyens optiques-mécaniques uniquement comportant un réflecteur mobile pour rayonnement électromagnétique dans la région invisible, p. ex. pour l'infrarouge

46.

OPTO-MECHANICAL OPTICAL PATH RETARDATION MULTIPLIER FOR OPTICAL MEMS APPLICATIONS

      
Numéro d'application US2010031467
Numéro de publication 2010/121185
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2010-04-16
Date de publication 2010-10-21
Propriétaire SI-WARE SYSTEMS (USA)
Inventeur(s)
  • Medhat, Mostafa
  • Saadany, Bassam, A.
  • Khalil, Diaa, A., M.
  • Mortada, Bassem

Abrégé

An optical Micro Electro-Mechanical System (MEMS) device provides an optical path retardation multiplier. The MEMS device includes a moveable corner cube reflector, a fixed mirror and a MEMS actuator. The moveable corner cube reflector is optically coupled to receive an incident beam and reflect the incident beam through 180 degrees towards the fixed mirror. The fixed mirror is optically coupled to reflect a reflected beam back towards the moveable corner cube reflector along a reverse path of the incident beam. The MEMS actuator is coupled to the moveable corner cube reflector to cause a displacement of the moveable corner cube reflector to extend an optical path length of the reflected beam.

Classes IPC  ?

  • G02B 5/124 - Réflecteurs reflex du type en sommet de cube, en trièdre ou en réflecteur triple plusieurs éléments réfléchissants faisant partie d'une plaque ou d'une feuille formant un tout
  • G02B 17/02 - Systèmes catoptriques, p. ex. systèmes redressant et renversant une image