- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/18 - Recherche de la présence de défauts ou de matériaux étrangers
Détention brevets de la classe G01N 23/18
Brevets de cette classe: 779
Historique des publications depuis 10 ans
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Ishida Co., Ltd. | 533 |
46 |
| FUJIFILM Corporation | 30514 |
41 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4681 |
18 |
| Toray Industries, Inc. | 7113 |
14 |
| Anritsu Corporation | 428 |
14 |
| Yxlon International GmbH | 47 |
12 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 18906 |
12 |
| The Boeing Company | 20160 |
11 |
| System Square Inc. | 33 |
11 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 286 |
11 |
| Bruker Nano, Inc. | 381 |
10 |
| Job Corporation | 30 |
10 |
| Tracerco Limited | 89 |
10 |
| Illinois Tool Works Inc. | 11863 |
9 |
| Tsinghua University | 6211 |
9 |
| Nuctech Company Limited | 1477 |
9 |
| KLA Corporation | 1849 |
9 |
| Topgolf Callaway Brands Corp. | 762 |
8 |
| AIX Scan, Inc. | 10 |
8 |
| Saki Corporation | 30 |
7 |
| Autres propriétaires | 500 |