- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/20008 - Détails de construction des appareils d’analyse, p. ex. caractérisés par la source de rayons X, le détecteur ou le système optique à rayons XLeurs accessoiresPréparation d’échantillons à cet effet
Détention brevets de la classe G01N 23/20008
Brevets de cette classe: 378
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 498 |
24 |
| Malvern PANalytical B.V. | 133 |
17 |
| The Boeing Company | 20163 |
16 |
| Nuctech Company Limited | 1478 |
12 |
| KLA Corporation | 1856 |
10 |
| Tsinghua University | 6217 |
8 |
| Nottingham Trent University | 90 |
8 |
| Sigray, Inc. | 88 |
8 |
| Cranfield University | 93 |
7 |
| Rapiscan Systems, Inc. | 283 |
7 |
| Shimadzu Corporation | 6347 |
6 |
| Canon Anelva Corporation | 684 |
6 |
| Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation | 1652 |
6 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
6 |
| Riken | 1717 |
6 |
| Proto Patents Ltd. | 16 |
6 |
| American Science and Engineering, Inc. | 99 |
5 |
| Arizona Board of Regents on behalf of Arizona State University | 2941 |
5 |
| The University of Tokyo | 4369 |
5 |
| Viken Detection Corporation | 64 |
5 |
| Autres propriétaires | 205 |