- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/20091 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p. ex. pour rechercher la structure cristallineRecherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p. ex. pour rechercher les matériaux non cristallinsRecherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux en mesurant le spectre de dispersion d’énergie [EDS] du rayonnement diffracté
Détention brevets de la classe G01N 23/20091
Brevets de cette classe: 87
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Saudi Arabian Oil Company | 12569 |
8 |
FEI Company | 921 |
5 |
Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10722 |
4 |
Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation | 1648 |
4 |
Bruker Technologies Ltd. | 87 |
4 |
University of Washington | 2278 |
3 |
Halliburton Energy Services, Inc. | 20618 |
2 |
LG Chem, Ltd. | 17444 |
2 |
Japan Display Inc. | 6938 |
2 |
Bruker Nano GmbH | 64 |
2 |
IMS Messsysteme GmbH | 16 |
2 |
Sigray, Inc. | 75 |
2 |
X Development LLC | 1347 |
2 |
Halo X-Ray Technologies Limited | 6 |
2 |
Roche Diagnostics Operations, Inc. | 1447 |
1 |
Pratt & Whitney Canada Corp. | 4444 |
1 |
Canon Inc. | 38847 |
1 |
Centre National de La Recherche Scientifique | 10156 |
1 |
Hitachi, Ltd. | 15311 |
1 |
Hitachi High-Tech Science Corporation | 324 |
1 |
Autres propriétaires | 37 |