- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2258 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’ions incidents, p.ex. des faisceaux de protons en mesurant l’émission d’ions secondaires, p.ex. spectrométrie de masse à ionisation secondaire [SIMS]
Détention brevets de la classe G01N 23/2258
Brevets de cette classe: 64
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Luxembourg Institute of Science and Technology (list) | 360 |
7 |
Nova Measuring Instruments Inc. | 66 |
4 |
The Board of Trustees of the Leland Stanford Junior University | 6226 |
3 |
Ionwerks, Inc. | 15 |
3 |
UT-Battelle, LLC | 1379 |
3 |
Schlumberger Technology Corporation | 10217 |
2 |
Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | 5437 |
2 |
Carl Zeiss SMT GmbH | 2805 |
2 |
Agriculture Victoria Services Pty Ltd | 178 |
2 |
Carl Zeiss Microscopy, LLC | 27 |
2 |
The Governing Council of The University of Toronto, | 1415 |
2 |
IDEXX Laboratories, Inc. | 779 |
2 |
University of Tennessee Research Foundation | 745 |
2 |
Schlumberger Canada Limited | 7137 |
1 |
Schlumberger Technology B.v. | 5058 |
1 |
Halliburton Energy Services, Inc. | 20403 |
1 |
LG Chem, Ltd. | 17620 |
1 |
Canon Inc. | 38016 |
1 |
Hitachi High-Technologies Corporation | 2019 |
1 |
Hitachi High-Tech Science Corporation | 322 |
1 |
Autres propriétaires | 21 |