- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2276 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en mesurant l'effet photo-électrique, p. ex. microscopie d'émission photo-électronique [PEEM] en utilisant l’effet Auger, p. ex. spectroscopie électronique Auger
Détention brevets de la classe G01N 23/2276
Brevets de cette classe: 14
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Nippon Micrometal Corporation | 150 |
4 |
JEOL Ltd. | 578 |
3 |
ASML Netherlands B.V. | 7361 |
2 |
Mitsubishi Materials Corporation | 2439 |
1 |
National University Corporation Nara Institute of Science and Technology | 238 |
1 |
ThyssenKrupp AG | 3279 |
1 |
ThyssenKrupp Industrial Solutions AG | 632 |
1 |
Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd. | 646 |
1 |
Autres propriétaires | 0 |