- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2276 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en mesurant l'effet photo-électrique, p. ex. microscopie d'émission photo-électronique [PEEM] en utilisant l’effet Auger, p. ex. spectroscopie électronique Auger
Détention brevets de la classe G01N 23/2276
Brevets de cette classe: 15
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Nippon Micrometal Corporation | 151 |
4 |
| JEOL Ltd. | 599 |
3 |
| ASML Netherlands B.V. | 7516 |
2 |
| Mitsubishi Materials Corporation | 2474 |
1 |
| National University Corporation Nara Institute of Science and Technology | 239 |
1 |
| ThyssenKrupp AG | 3322 |
1 |
| ThyssenKrupp Industrial Solutions AG | 632 |
1 |
| Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd. | 670 |
1 |
| Sharp Display Technology Corporation | 953 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |