- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/18 - Microscopie optique à champ proche à balayage SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] ou appareils à cet effet, p. ex. sondes SNOM
Détention brevets de la classe G01Q 60/18
Brevets de cette classe: 85
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi, Ltd. | 15904 |
16 |
| Bruker Nano, Inc. | 378 |
8 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10881 |
2 |
| Koninklijke Philips Electronics N.V. | 7988 |
2 |
| Pioneer Corporation | 3844 |
2 |
| Kyoto University | 2893 |
2 |
| Lehigh University | 171 |
2 |
| Pioneer Micro Technology Corporation | 58 |
2 |
| Thorlabs, Inc. | 371 |
2 |
| Centre National de La Recherche Scientifique (cnrs) | 3052 |
2 |
| Molecular Vista, Inc. | 16 |
2 |
| The Regents of the University of California | 20556 |
1 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1992 |
1 |
| Olympus Corporation | 13014 |
1 |
| California Institute of Technology | 4017 |
1 |
| Tsinghua University | 6112 |
1 |
| Shimadzu Corporation | 6306 |
1 |
| The Trustees of the University of Pennsylvania | 4406 |
1 |
| Korea Advanced Institute of Science and Technology | 4575 |
1 |
| Japan Science and Technology Agency | 1234 |
1 |
| Autres propriétaires | 34 |