- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/18 - Microscopie optique à champ proche à balayage SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SNOM
Détention brevets de la classe G01Q 60/18
Brevets de cette classe: 90
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi, Ltd. | 15220 |
16 |
| Bruker Nano, Inc. | 335 |
8 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10091 |
2 |
| Koninklijke Philips Electronics N.V. | 10889 |
2 |
| Pioneer Corporation | 4636 |
2 |
| Kyoto University | 2777 |
2 |
| Lehigh University | 162 |
2 |
| Pioneer Micro Technology Corporation | 59 |
2 |
| Thorlabs, Inc. | 415 |
2 |
| Centre National de La Recherche Scientifique (cnrs) | 3147 |
2 |
| The Regents of the University of California | 19503 |
1 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 2018 |
1 |
| Ricoh Company, Ltd. | 13209 |
1 |
| Olympus Corporation | 13281 |
1 |
| California Institute of Technology | 3934 |
1 |
| Shimadzu Corporation | 6010 |
1 |
| The Trustees of the University of Pennsylvania | 4254 |
1 |
| The Board of Trustees of the University of Illinois | 2666 |
1 |
| Korea Advanced Institute of Science and Technology | 4182 |
1 |
| Japan Science and Technology Agency | 1419 |
1 |
| Autres propriétaires | 40 |