Breker Verification Systems

États‑Unis d’Amérique

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2021 1
Avant 2021 11
Classe IPC
G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques 12
G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel 11
G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs 11
G01R 31/3181 - Tests fonctionnels 10
G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test 9
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Résultats pour  brevets

1.

Scheduling of scenario models for execution within different computer threads and scheduling of memory regions for use with the scenario models

      
Numéro d'application 17087856
Numéro de brevet 11748240
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2020-11-03
Date de la première publication 2021-03-11
Date d'octroi 2023-09-05
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed by components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G06F 30/20 - Optimisation, vérification ou simulation de l’objet conçu
  • G06F 30/39 - Conception de circuits au niveau physique
  • G06F 30/331 - Vérification de la conception, p. ex. simulation fonctionnelle ou vérification du modèle par simulation avec accélération matérielle, p. ex. en utilisant les réseaux de portes programmables [FPGA] ou une émulation
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles
  • G06F 9/48 - Lancement de programmes Commutation de programmes, p. ex. par interruption
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 30/3323 - Vérification de la conception, p. ex. simulation fonctionnelle ou vérification du modèle utilisant des méthodes formelles, p. ex. vérification de l’équivalence ou vérification des propriétés
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06F 11/25 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques

2.

Testing SoC with portable scenario models and at different levels

      
Numéro d'application 16553083
Numéro de brevet 11055212
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-08-27
Date de la première publication 2019-12-26
Date d'octroi 2021-07-06
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 11/00 - Détection d'erreursCorrection d'erreursContrôle de fonctionnement
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 30/20 - Optimisation, vérification ou simulation de l’objet conçu
  • G06F 30/39 - Conception de circuits au niveau physique
  • G06F 30/331 - Vérification de la conception, p. ex. simulation fonctionnelle ou vérification du modèle par simulation avec accélération matérielle, p. ex. en utilisant les réseaux de portes programmables [FPGA] ou une émulation
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles
  • G06F 9/48 - Lancement de programmes Commutation de programmes, p. ex. par interruption
  • G06F 11/25 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques

3.

Scheduling of scenario models for execution within different computer threads and scheduling of memory regions for use with the scenario models

      
Numéro d'application 16455642
Numéro de brevet 10838006
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2019-06-27
Date de la première publication 2019-10-17
Date d'octroi 2020-11-17
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed by components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 9/48 - Lancement de programmes Commutation de programmes, p. ex. par interruption
  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/25 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G06F 30/20 - Optimisation, vérification ou simulation de l’objet conçu
  • G06F 30/39 - Conception de circuits au niveau physique
  • G06F 30/331 - Vérification de la conception, p. ex. simulation fonctionnelle ou vérification du modèle par simulation avec accélération matérielle, p. ex. en utilisant les réseaux de portes programmables [FPGA] ou une émulation

4.

Scheduling of scenario models for execution within different computer threads and scheduling of memory regions for use with the scenario models

      
Numéro d'application 15868940
Numéro de brevet 10365326
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2018-01-11
Date de la première publication 2018-05-17
Date d'octroi 2019-07-30
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed by components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two module representations of the plurality of module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the plurality of module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the plurality of module representations and the one or more connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 11/25 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G06F 9/48 - Lancement de programmes Commutation de programmes, p. ex. par interruption
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles

5.

Testing SOC with portable scenario models and at different levels

      
Numéro d'application 15621995
Numéro de brevet 10429442
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-06-13
Date de la première publication 2017-09-28
Date d'octroi 2019-10-01
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 11/00 - Détection d'erreursCorrection d'erreursContrôle de fonctionnement
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles
  • G06F 9/48 - Lancement de programmes Commutation de programmes, p. ex. par interruption
  • G06F 11/25 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques

6.

Scheduling of scenario models for execution within different computer threads and scheduling of memory regions for use with the scenario models

      
Numéro d'application 15497634
Numéro de brevet 09874608
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2017-04-26
Date de la première publication 2017-08-10
Date d'octroi 2018-01-23
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed by components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G06F 9/48 - Lancement de programmes Commutation de programmes, p. ex. par interruption
  • G06F 11/25 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test

7.

Display in a graphical format of test results generated using scenario models

      
Numéro d'application 15159576
Numéro de brevet 11113184
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-05-19
Date de la première publication 2016-09-15
Date d'octroi 2021-09-07
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 30/20 - Optimisation, vérification ou simulation de l’objet conçu
  • G06F 30/39 - Conception de circuits au niveau physique
  • G06F 30/331 - Vérification de la conception, p. ex. simulation fonctionnelle ou vérification du modèle par simulation avec accélération matérielle, p. ex. en utilisant les réseaux de portes programmables [FPGA] ou une émulation
  • G06F 30/3323 - Vérification de la conception, p. ex. simulation fonctionnelle ou vérification du modèle utilisant des méthodes formelles, p. ex. vérification de l’équivalence ou vérification des propriétés
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles
  • G06F 9/48 - Lancement de programmes Commutation de programmes, p. ex. par interruption
  • G06F 11/25 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques

8.

Scheduling of scenario models for execution within different computer threads and scheduling of memory regions for use with the scenario models

      
Numéro d'application 15081740
Numéro de brevet 09651619
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-03-25
Date de la première publication 2016-07-21
Date d'octroi 2017-05-16
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles

9.

Testing SoC with portable scenario models and at different levels

      
Numéro d'application 15055404
Numéro de brevet 09689921
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2016-02-26
Date de la première publication 2016-07-07
Date d'octroi 2017-06-27
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 11/00 - Détection d'erreursCorrection d'erreursContrôle de fonctionnement
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G06F 11/22 - Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p. ex. essais de mise en route
  • G06F 11/263 - Génération de signaux d'entrée de test, p. ex. vecteurs, formes ou séquences de test
  • G06T 11/20 - Traçage à partir d'éléments de base, p. ex. de lignes ou de cercles

10.

Testing SOC with portable scenario models and at different levels

      
Numéro d'application 14689596
Numéro de brevet 09310433
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-04-17
Date de la première publication 2015-10-22
Date d'octroi 2016-04-12
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel

11.

Scheduling of scenario models for execution within different computer threads and scheduling of memory regions for use with the scenario models

      
Numéro d'application 14689649
Numéro de brevet 09316689
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-04-17
Date de la première publication 2015-10-22
Date d'octroi 2016-04-19
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel

12.

Display in a graphical format of test results generated using scenario models

      
Numéro d'application 14689687
Numéro de brevet 09360523
Statut Délivré - en vigueur
Date de dépôt 2015-04-17
Date de la première publication 2015-10-22
Date d'octroi 2016-06-07
Propriétaire Breker Verification Systems (USA)
Inventeur(s)
  • Hamid, Adnan
  • Qian, Kairong
  • Do, Kieu
  • Grosse, Joerg

Abrégé

A method for testing a system-on-a-chip (SoC) is described. The method includes parsing a file to determine functions to be performed components of the SoC. The method further includes receiving a desired output of the SoC and generating a test scenario model based on the desired output of the SoC. The test scenario model includes a plurality of module representations of the functions and includes one or more connections between two of the module representations. The desired output acts as a performance constraint for the test scenario model. The test scenario model further includes an input of the SoC that is generated based on the desired output, the module representations, and the one or more connections. The test scenario model includes a path from the input via the module representations and the connections to the desired output.

Classes IPC  ?

  • G01R 31/3181 - Tests fonctionnels
  • G06F 3/0484 - Techniques d’interaction fondées sur les interfaces utilisateur graphiques [GUI] pour la commande de fonctions ou d’opérations spécifiques, p. ex. sélection ou transformation d’un objet, d’une image ou d’un élément de texte affiché, détermination d’une valeur de paramètre ou sélection d’une plage de valeurs
  • G06F 11/36 - Prévention d'erreurs par analyse, par débogage ou par test de logiciel
  • G06F 17/50 - Conception assistée par ordinateur
  • G01R 31/3177 - Tests de fonctionnement logique, p. ex. au moyen d'analyseurs logiques