• Sections
  • G - Physique
  • G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
  • G01N 23/20058 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p. ex. pour rechercher la structure cristallineRecherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p. ex. pour rechercher les matériaux non cristallinsRecherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux en mesurant la diffraction des électrons, p. ex. la diffraction d’électrons lents [LEED] ou la diffraction d’électrons de haute énergie en incidence rasante [RHEED]

Détention brevets de la classe G01N 23/20058

Brevets de cette classe: 79

Historique des publications depuis 10 ans

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2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023 2024 2025 2026

Propriétaires principaux

Proprétaire
Total
Cette classe
FEI Company
1021
9
LG Chem, Ltd.
17745
3
The Regents of the University of California
20410
3
Bruker Nano GmbH
67
3
Fyzikalni Ustav AV CR, V.v.i.
38
3
Gatan, Inc.
112
3
JEOL Ltd.
614
3
Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited
142
3
Riken
1700
3
Tescan Group, A.S.
33
3
Samsung Electronics Co., Ltd.
151726
2
International Business Machines Corporation
61969
2
Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives
10971
2
Rigaku Corporation
467
2
Ivworks Co., Ltd.
24
2
Merck Patent GmbH
5729
1
Hitachi High-Technologies Corporation
1993
1
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd.
11616
1
Mitsubishi Electric Corporation
47380
1
ASML Netherlands B.V.
7673
1
Autres propriétaires 28