- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/207 - Diffractométrie, p. ex. en utilisant une sonde en position centrale et un ou plusieurs détecteurs déplaçables en positions circonférentielles
Détention brevets de la classe G01N 23/207
Brevets de cette classe: 667
Historique des publications depuis 10 ans
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46
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34
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10
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 472 |
107 |
| Bruker AXS, Inc. | 36 |
17 |
| Shimadzu Corporation | 6302 |
16 |
| Bruker Technologies Ltd. | 79 |
16 |
| Malvern PANalytical B.V. | 132 |
14 |
| Sigray, Inc. | 86 |
11 |
| Xinmei Fontana Holding (Hong Kong) Limited | 155 |
10 |
| FEI Company | 1030 |
9 |
| KLA-Tencor Corporation | 2524 |
9 |
| Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | 5911 |
8 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 17267 |
8 |
| Bruker AXS SE | 37 |
8 |
| LG Chem, Ltd. | 17810 |
7 |
| Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 11649 |
7 |
| Xnovo Technology ApS | 10 |
7 |
| Proto Patents Ltd. | 16 |
7 |
| Danmarks Tekniske Universitet | 1010 |
6 |
| JEOL Ltd. | 614 |
6 |
| Sintokogio, Ltd. | 1179 |
6 |
| The University of Tokyo | 4314 |
6 |
| Autres propriétaires | 382 |