- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/207 - Diffractométrie, p. ex. en utilisant une sonde en position centrale et un ou plusieurs détecteurs déplaçables en positions circonférentielles
Détention brevets de la classe G01N 23/207
Brevets de cette classe: 652
Historique des publications depuis 10 ans
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31
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| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 450 |
103 |
| Bruker AXS, Inc. | 37 |
17 |
| Shimadzu Corporation | 6232 |
16 |
| Bruker Technologies Ltd. | 79 |
16 |
| Malvern PANalytical B.V. | 132 |
14 |
| Sigray, Inc. | 85 |
11 |
| Xinmei Fontana Holding (Hong Kong) Limited | 157 |
10 |
| FEI Company | 990 |
9 |
| KLA-Tencor Corporation | 2538 |
9 |
| Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | 5784 |
8 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 15915 |
8 |
| Bruker AXS SE | 37 |
8 |
| LG Chem, Ltd. | 17679 |
7 |
| Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 11552 |
7 |
| Xnovo Technology ApS | 10 |
7 |
| Proto Patents Ltd. | 16 |
7 |
| Danmarks Tekniske Universitet | 996 |
6 |
| JEOL Ltd. | 602 |
6 |
| Sintokogio, Ltd. | 1164 |
6 |
| KLA Corporation | 1664 |
6 |
| Autres propriétaires | 371 |