- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2254 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’électrons incidents, p. ex. la microscopie électronique à balayage [SEM] en mesurant la cathodoluminescence
Détention brevets de la classe G01N 23/2254
Brevets de cette classe: 33
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1270 |
4 |
| FEI Company | 1052 |
3 |
| Attolight AG | 14 |
3 |
| National University Corporation Nagaoka University of Technology | 147 |
2 |
| Renishaw plc | 760 |
2 |
| Sanoh Industrial Co., Ltd. | 216 |
2 |
| Silanna UV Technologies Pte Ltd | 123 |
2 |
| The Regents of the University of California | 20745 |
1 |
| ASML Netherlands B.V. | 7925 |
1 |
| The Board of Trustees of the Leland Stanford Junior University | 6653 |
1 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3794 |
1 |
| Bruker Nano GmbH | 67 |
1 |
| Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (epfl) | 1609 |
1 |
| ExxonMobil Upstream Research Company | 2305 |
1 |
| Gatan, Inc. | 112 |
1 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
1 |
| Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 143 |
1 |
| Southwest Petroleum University | 521 |
1 |
| Stichting voor Fundamenteel Onderzoek der Materie | 9 |
1 |
| Delmic IP B.V. | 22 |
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| Autres propriétaires | 2 |