- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 40/00 - Étalonnage, p. ex. des sondes
Détention brevets de la classe G01Q 40/00
Brevets de cette classe: 102
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Infinitesima Limited | 69 |
10 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2424 |
8 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 31 |
7 |
| Bruker Nano, Inc. | 378 |
5 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10886 |
4 |
| Nearfield Instruments B.V. | 57 |
4 |
| University Court of The University of ST Andrews | 307 |
3 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 154406 |
2 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3235 |
2 |
| Korea Advanced Institute of Science and Technology | 4584 |
2 |
| Ecole Normale Superieure de Lyon | 246 |
2 |
| Horiba Jobin Yvon SAS | 47 |
2 |
| Hysitron, Inc. | 34 |
2 |
| Universite Claude Bernard Lyon 1 | 1067 |
2 |
| Paris Sciences et Lettres - Quartier Latin | 222 |
2 |
| Sorbonne Universite | 1372 |
2 |
| Molecular Vista, Inc. | 16 |
2 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5669 |
2 |
| Hitachi, Ltd. | 15918 |
1 |
| Texas Instruments Incorporated | 19635 |
1 |
| Autres propriétaires | 37 |