- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 40/00 - Étalonnage, p. ex. des sondes
Détention brevets de la classe G01Q 40/00
Brevets de cette classe: 101
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Infinitesima Limited | 72 |
10 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2440 |
8 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 31 |
7 |
| Bruker Nano, Inc. | 381 |
5 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 11023 |
4 |
| Nearfield Instruments B.V. | 61 |
4 |
| University Court of The University of ST Andrews | 303 |
3 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 157719 |
2 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3332 |
2 |
| Korea Advanced Institute of Science and Technology | 4664 |
2 |
| Ecole Normale Superieure de Lyon | 249 |
2 |
| Horiba Jobin Yvon SAS | 47 |
2 |
| Hysitron, Inc. | 34 |
2 |
| Universite Claude Bernard Lyon 1 | 1077 |
2 |
| Paris Sciences et Lettres - Quartier Latin | 229 |
2 |
| Sorbonne Universite | 1399 |
2 |
| Molecular Vista, Inc. | 16 |
2 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5846 |
2 |
| Hitachi, Ltd. | 16094 |
1 |
| Texas Instruments Incorporated | 19672 |
1 |
| Autres propriétaires | 36 |