- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/02 - Microscopie à sonde à balayage de type multiple, c.-à-d. incluant au moins deux techniques SPM
Détention brevets de la classe G01Q 60/02
Brevets de cette classe: 16
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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| Massachusetts Institute of Technology | 10196 |
1 |
| Tsinghua University | 6110 |
1 |
| Empire Technology Development LLC | 1615 |
1 |
| Shimadzu Corporation | 6307 |
1 |
| CAMECA Instruments, Inc. | 18 |
1 |
| Chinese Academy of Inspection and Quarantine | 20 |
1 |
| IMEC VZW | 1752 |
1 |
| Nanosurf AG | 9 |
1 |
| Technische Universitat Graz | 128 |
1 |
| Technische Universitat Wien | 397 |
1 |
| The University of North Carolina at Chapel Hill | 2069 |
1 |
| Paris Sciences et Lettres - Quartier Latin | 222 |
1 |
| Sorbonne Universite | 1364 |
1 |
| Centre National de La Recherche Scientifique (cnrs) | 3056 |
1 |
| Cest Kompetenzzentrum für Elektrochemische Oberflächentechnologie GmbH | 2 |
1 |
| Universite de Paris | 194 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |