- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/08 - Microscopie à forces magnétiques MFM [Magnetic Force Microscopy] combinée avec la microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy]
Détention brevets de la classe G01Q 60/08
Brevets de cette classe: 10
Historique des publications depuis 10 ans
|
2
|
0
|
1
|
2
|
1
|
1
|
2
|
1
|
0
|
0
|
| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48560 |
3 |
| President and Fellows of Harvard College | 6105 |
3 |
| Consejo Superior de Investigaciones Cientificas (csic) | 1449 |
1 |
| Ernst-Moritz-Arndt-Universität Greifswald | 36 |
1 |
| National Cheng Kung University | 630 |
1 |
| Universidad Autonoma de Madrid | 203 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |