- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/10 - Microscopie à effet tunnel à balayage STM [Scanning Tunnelling Microscopy] ou appareils à cet effet, p. ex. sondes STM
Détention brevets de la classe G01Q 60/10
Brevets de cette classe: 58
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Gtheranostics Co., Ltd. | 8 |
6 |
| Zyvex Labs, LLC | 14 |
4 |
| Board of Regents, The University of Texas System | 6050 |
3 |
| Shimadzu Corporation | 6304 |
3 |
| Quantum Silicon Inc. | 26 |
3 |
| The Regents of the University of California | 20574 |
2 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 49 |
2 |
| Japan Science and Technology Agency | 1231 |
2 |
| The Arizona Board of Regents on Behalf of the University of Arizona | 2259 |
2 |
| The Australian National University | 191 |
2 |
| Dalian University of Technology | 1572 |
2 |
| Forschungszentrum Juelich GmbH | 102 |
2 |
| UT-Battelle, LLC | 1497 |
2 |
| Quantum Brilliance Pty Ltd | 8 |
2 |
| Hitachi, Ltd. | 15918 |
1 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1992 |
1 |
| Korea Advanced Institute of Science and Technology | 4584 |
1 |
| B. G. Negev Technologies and Applications Ltd. | 23 |
1 |
| CAMECA Instruments, Inc. | 18 |
1 |
| Ceské Vysoké Ucení Technické V Praze | 77 |
1 |
| Autres propriétaires | 15 |