- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/30 - Microscopie à mesure de potentiel à balayage
Détention brevets de la classe G01Q 60/30
Brevets de cette classe: 118
Historique des publications depuis 10 ans
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Bruker Nano, Inc. | 382 |
13 |
| Xallent Inc. | 20 |
6 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48490 |
4 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 11042 |
3 |
| Cornell University | 3434 |
3 |
| DCG Systems, Inc. | 50 |
3 |
| Forschungszentrum Julich GmbH | 633 |
3 |
| IMEC VZW | 1823 |
3 |
| National University Corporation Kanazawa University | 259 |
3 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2442 |
3 |
| Osaka University | 3266 |
3 |
| The Boeing Company | 20168 |
2 |
| Seagate Technology LLC | 3959 |
2 |
| Shimadzu Corporation | 6354 |
2 |
| Ecole Superieure d'electricite | 8 |
2 |
| Nanowear Inc. | 20 |
2 |
| PrimeNano, Inc. | 5 |
2 |
| Washington University | 1746 |
2 |
| Xallent, LLC | 4 |
2 |
| FEI Efa, Inc. | 18 |
2 |
| Autres propriétaires | 53 |