- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/46 - Microscopie capacitive à balayage SCM [Scanning Capacitance Microscopy] ou appareils à cet effet, p. ex. sondes SCM
Détention brevets de la classe G01Q 60/46
Brevets de cette classe: 12
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Msscorps Co., Ltd. | 11 |
3 |
| Semiconductor Manufacturing International (Beijing) Corporation | 1031 |
2 |
| Semiconductor Manufacturing International (Shanghai) Corporation | 1733 |
2 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48438 |
1 |
| National Chung Hsing University | 84 |
1 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 31 |
1 |
| Universität Linz | 40 |
1 |
| FEI Efa, Inc. | 18 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |