- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02015 - Interféromètres caractérisés par la configuration du parcours du faisceau
Détention brevets de la classe G01B 9/02015
Brevets de cette classe: 351
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| ASML Netherlands B.V. | 7795 |
14 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3261 |
6 |
| Orbotech Ltd. | 254 |
6 |
| KLA Corporation | 1816 |
6 |
| The General Hospital Corporation | 4845 |
5 |
| ams International AG | 443 |
5 |
| Occuity Limited | 24 |
5 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10922 |
4 |
| Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de La Ville de Paris | 384 |
4 |
| Heidelberg Engineering GmbH | 66 |
4 |
| Precitec Optronik GmbH | 82 |
4 |
| Unity Semiconductor | 65 |
4 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 155524 |
3 |
| Seiko Epson Corporation | 20099 |
3 |
| California Institute of Technology | 4023 |
3 |
| Omron Corporation | 7343 |
3 |
| Tsinghua University | 6147 |
3 |
| The Arizona Board of Regents on Behalf of the University of Arizona | 2269 |
3 |
| Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences | 34 |
3 |
| IDOM, S.A.U, a legal entity | 15 |
3 |
| Autres propriétaires | 260 |