- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02015 - Interféromètres caractérisés par la configuration du parcours du faisceau
Détention brevets de la classe G01B 9/02015
Brevets de cette classe: 372
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| ASML Netherlands B.V. | 8019 |
14 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3370 |
6 |
| Heidelberg Engineering GmbH | 73 |
6 |
| Orbotech Ltd. | 258 |
6 |
| KLA Corporation | 1879 |
6 |
| The General Hospital Corporation | 4890 |
5 |
| ams International AG | 421 |
5 |
| Occuity Limited | 25 |
5 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 159029 |
4 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 11111 |
4 |
| Seiko Epson Corporation | 20446 |
4 |
| Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de La Ville de Paris | 400 |
4 |
| Precitec Optronik GmbH | 84 |
4 |
| Unity Semiconductor | 67 |
4 |
| Lidwave Ltd. | 6 |
4 |
| Prodrive Technologies Innovation Services B.V. | 76 |
4 |
| Raytheon Company | 8443 |
3 |
| California Institute of Technology | 4038 |
3 |
| Omron Corporation | 7425 |
3 |
| Tsinghua University | 6248 |
3 |
| Autres propriétaires | 275 |