- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02015 - Interféromètres caractérisés par la configuration du parcours du faisceau
Détention brevets de la classe G01B 9/02015
Brevets de cette classe: 295
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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ASML Netherlands B.V. | 7434 |
12 |
The General Hospital Corporation | 4759 |
5 |
ams International AG | 430 |
5 |
KLA Corporation | 1603 |
5 |
Occuity Limited | 24 |
5 |
Centre National de La Recherche Scientifique | 10516 |
4 |
Carl Zeiss SMT GmbH | 3019 |
4 |
Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de La Ville de Paris | 357 |
4 |
Heidelberg Engineering GmbH | 63 |
4 |
Unity Semiconductor | 63 |
4 |
Samsung Electronics Co., Ltd. | 147501 |
3 |
California Institute of Technology | 3985 |
3 |
Omron Corporation | 7297 |
3 |
Tsinghua University | 5951 |
3 |
Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences | 30 |
3 |
IDOM, S.A.U, a legal entity | 16 |
3 |
Mitutoyo Corporation | 1250 |
3 |
Orbotech Ltd. | 233 |
3 |
Precitec Optronik GmbH | 76 |
3 |
Lessmüller Lasertechnik GmbH | 11 |
3 |
Autres propriétaires | 213 |