- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02017 - Interféromètres caractérisés par la configuration du parcours du faisceau avec plusieurs interactions entre l’objet ciblé et les faisceaux lumineux, p. ex. les réflexions des faisceaux provenant de positions différentes
Détention brevets de la classe G01B 9/02017
Brevets de cette classe: 69
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3370 |
4 |
| ASML Netherlands B.V. | 8019 |
3 |
| Medlumics S.L. | 75 |
3 |
| KLA Corporation | 1879 |
3 |
| VDL Enabling Technologies Group B.V. | 20 |
3 |
| Qunnect Inc. | 33 |
3 |
| Omron Corporation | 7425 |
2 |
| FANUC Corporation | 7369 |
2 |
| IDOM, S.A.U, a legal entity | 15 |
2 |
| The Research Foundation for The State University of New York | 1768 |
2 |
| Nova Ltd. | 195 |
2 |
| Apple Inc. | 59241 |
1 |
| Hitachi, Ltd. | 16206 |
1 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 48351 |
1 |
| Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | 34471 |
1 |
| Corning Incorporated | 10538 |
1 |
| The General Hospital Corporation | 4890 |
1 |
| Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V. | 5294 |
1 |
| AMO Development, LLC | 629 |
1 |
| AOSense, Inc. | 33 |
1 |
| Autres propriétaires | 31 |