- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02055 - Réduction ou prévention d’erreursTestÉtalonnage
Détention brevets de la classe G01B 9/02055
Brevets de cette classe: 330
Historique des publications depuis 10 ans
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3307 |
18 |
| ASML Netherlands B.V. | 7883 |
15 |
| Kineolabs, Inc. | 25 |
8 |
| Precitec Optronik GmbH | 83 |
7 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10993 |
6 |
| ams International AG | 446 |
6 |
| Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de La Ville de Paris | 389 |
6 |
| Leica Microsystems CMS GmbH | 1142 |
5 |
| Leica Microsystems Inc. | 23 |
5 |
| Mitutoyo Corporation | 1263 |
5 |
| Orbotech Ltd. | 257 |
5 |
| Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | 396 |
5 |
| KLA Corporation | 1838 |
5 |
| Massachusetts Institute of Technology | 10230 |
4 |
| LightLab Imaging, Inc. | 293 |
4 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 47893 |
3 |
| Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | 33792 |
3 |
| California Institute of Technology | 4040 |
3 |
| Omron Corporation | 7354 |
3 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4654 |
3 |
| Autres propriétaires | 211 |