- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02055 - Réduction ou prévention d’erreursTestÉtalonnage
Détention brevets de la classe G01B 9/02055
Brevets de cette classe: 289
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| ASML Netherlands B.V. | 7418 |
13 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3011 |
13 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10476 |
6 |
| ams International AG | 435 |
6 |
| Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de La Ville de Paris | 355 |
6 |
| Kineolabs, Inc. | 19 |
6 |
| Leica Microsystems CMS GmbH | 1096 |
5 |
| Leica Microsystems Inc. | 23 |
5 |
| Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | 342 |
5 |
| KLA Corporation | 1591 |
5 |
| Massachusetts Institute of Technology | 10080 |
4 |
| Mitutoyo Corporation | 1250 |
4 |
| Orbotech Ltd. | 233 |
4 |
| Precitec Optronik GmbH | 76 |
4 |
| Silixa Ltd. | 95 |
4 |
| California Institute of Technology | 3981 |
3 |
| Omron Corporation | 7264 |
3 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4434 |
3 |
| ADIGE S.p.A. | 55 |
3 |
| Energetiq Technology, Inc. | 49 |
3 |
| Autres propriétaires | 184 |