- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02061 - Réduction ou prévention d’effets résultant de l’inclinaison ou d’un défaut d’alignement
Détention brevets de la classe G01B 9/02061
Brevets de cette classe: 13
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3328 |
3 |
| Nikon Corporation | 7235 |
1 |
| ASML Netherlands B.V. | 7906 |
1 |
| Dr. Johannes Heidenhain GmbH | 408 |
1 |
| Liteq B.V. | 3 |
1 |
| Munro Design & Technologies, LLC | 15 |
1 |
| Optipro Systems, L.L.C. | 13 |
1 |
| Technische Universiteit Eindhoven | 387 |
1 |
| Tohoku University | 2970 |
1 |
| KLA Corporation | 1844 |
1 |
| Rapid Phenotyping Pty Ltd | 22 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |