- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2055 - Analyse des diagrammes de diffraction
Détention brevets de la classe G01N 23/2055
Brevets de cette classe: 221
Historique des publications depuis 10 ans
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10
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10
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29
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22
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19
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8
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 479 |
24 |
| The Regents of the University of California | 20574 |
7 |
| KLA Corporation | 1790 |
5 |
| FEI Company | 1045 |
4 |
| Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 141 |
4 |
| Bruker Technologies Ltd. | 73 |
4 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 17738 |
4 |
| ASML Netherlands B.V. | 7762 |
3 |
| California Institute of Technology | 4016 |
3 |
| Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) | 2832 |
3 |
| Kobe Steel, Ltd. | 896 |
3 |
| Sigray, Inc. | 86 |
3 |
| Malvern PANalytical B.V. | 132 |
3 |
| Bruker AXS, LLC | 22 |
3 |
| Kioxia Corporation | 10712 |
3 |
| Nova Ltd. | 191 |
3 |
| Resonac Corporation | 3247 |
3 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 154406 |
2 |
| Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 11701 |
2 |
| Sumitomo Chemical Company, Limited | 9055 |
2 |
| Autres propriétaires | 133 |