- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2255 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’ions incidents, p. ex. des faisceaux de protons
Détention brevets de la classe G01N 23/2255
Brevets de cette classe: 38
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Minnesota Imaging and Engineering LLC | 17 |
5 |
Applied Materials, Inc. | 18299 |
4 |
Applied Materials Israel, Ltd. | 594 |
3 |
Fibics Incorporated | 25 |
3 |
Saudi Arabian Oil Company | 12761 |
3 |
Best Theratronics Ltd. | 55 |
2 |
Centre National de La Recherche Scientifique | 10253 |
1 |
Hitachi High-Technologies Corporation | 2012 |
1 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 11323 |
1 |
Synopsys, Inc. | 2782 |
1 |
Carl Zeiss SMT GmbH | 2920 |
1 |
Korea Advanced Institute of Science and Technology | 4298 |
1 |
Aramco Services Company | 3892 |
1 |
Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1201 |
1 |
Harbin Institute of Technology | 424 |
1 |
Institut National des Sciences Appliquees de Lyon | 281 |
1 |
KEYENCE Corporation | 432 |
1 |
KLA-Tencor Corporation | 2546 |
1 |
KOA Glass Co., Ltd. | 37 |
1 |
Universite Claude Bernard Lyon 1 | 1003 |
1 |
Autres propriétaires | 4 |