- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2257 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’ions incidents, p. ex. des faisceaux de protons en mesurant les rayons X excités, c.-à-d. émission de rayons X induite par particules [PIXE]
Détention brevets de la classe G01N 23/2257
Brevets de cette classe: 14
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| FEI Company | 1062 |
4 |
| Best Theratronics Ltd. | 54 |
3 |
| Applied Materials, Inc. | 20552 |
1 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 689 |
1 |
| Shimadzu Corporation | 6373 |
1 |
| Forschungszentrum Juelich GmbH | 103 |
1 |
| Forschungszentrum Julich GmbH | 630 |
1 |
| University of North Texas | 228 |
1 |
| Kioxia Corporation | 10948 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |