- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/227 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en mesurant l'effet photo-électrique, p. ex. microscopie d'émission photo-électronique [PEEM]
Détention brevets de la classe G01N 23/227
Brevets de cette classe: 97
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Scienta Omicron AB | 20 |
9 |
| KLA-Tencor Corporation | 2517 |
5 |
| Nova Measuring Instruments Inc. | 74 |
5 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5969 |
5 |
| The University of Tokyo | 4390 |
4 |
| ReVera Incorporated | 7 |
3 |
| ULVAC-PHI, Inc. | 15 |
3 |
| Hitachi, Ltd. | 16206 |
2 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3790 |
2 |
| EMPA Eidgenössische Materialprüfungs-und Forschungsanstalt | 205 |
2 |
| Inter-University Research Institute Corporation High Energy Accelerator Research Organization | 68 |
2 |
| JEOL Ltd. | 626 |
2 |
| National Institute for Materials Science | 1088 |
2 |
| National University Corporation Nagoya University | 779 |
2 |
| National University Corporation Nara Institute of Science and Technology | 221 |
2 |
| Nova Measuring Instruments Ltd. | 67 |
2 |
| Oxide Corporation | 18 |
2 |
| Tokyo Institute of Technology | 1305 |
2 |
| University of Pittsburgh - Of the Commonwealth System of Higher Education | 3345 |
2 |
| Drilliant Ltd. | 5 |
2 |
| Autres propriétaires | 37 |