- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2273 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en mesurant l'effet photo-électrique, p. ex. microscopie d'émission photo-électronique [PEEM] en mesurant le spectre photo-électronique, p. ex. spectroscopie électronique pour l’analyse chimique [ESCA] ou spectroscopie photo-électronique par rayon X [XPS]
Détention brevets de la classe G01N 23/2273
Brevets de cette classe: 145
Historique des publications depuis 10 ans
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2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Nova Measuring Instruments Inc. | 70 |
22 |
Sumitomo Electric Industries, Ltd. | 15414 |
7 |
Scienta Omicron AB | 20 |
5 |
Samsung Electronics Co., Ltd. | 145025 |
4 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 11385 |
4 |
Sigray, Inc. | 77 |
4 |
SPECS Surface Nano Analysis GmbH | 55 |
4 |
VG Systems Limited | 16 |
4 |
Toshiba Corporation | 12317 |
3 |
Sumitomo Chemical Company, Limited | 9031 |
3 |
Halliburton Energy Services, Inc. | 20835 |
2 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 42389 |
2 |
Sumitomo Rubber Industries, Ltd. | 4522 |
2 |
University of South Florida | 1817 |
2 |
Analytical Mechanics Associates, Inc. | 10 |
2 |
FEI Company | 941 |
2 |
KLA-Tencor Corporation | 2545 |
2 |
Korea Research Institute of Standards and Science | 671 |
2 |
Nankai University | 233 |
2 |
University-industry Cooperation Group of Kyung Hee University | 1206 |
2 |
Autres propriétaires | 65 |