- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2273 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en mesurant l'effet photo-électrique, p.ex. microscopie d'émission photo-électronique [PEEM] en mesurant le spectre photo-électronique, p.ex. spectroscopie électronique pour l’analyse chimique [ESCA] ou spectroscopie photo-électronique par rayon X [XPS]
Détention brevets de la classe G01N 23/2273
Brevets de cette classe: 123
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Nova Measuring Instruments Inc. | 66 |
19 |
| Sumitomo Electric Industries, Ltd. | 14956 |
5 |
| Scienta Omicron AB | 20 |
5 |
| Sigray, Inc. | 72 |
4 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 138729 |
3 |
| Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 11080 |
3 |
| SPECS Surface Nano Analysis GmbH | 54 |
3 |
| VG Systems Limited | 15 |
3 |
| Halliburton Energy Services, Inc. | 20419 |
2 |
| Toshiba Corporation | 12043 |
2 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 40583 |
2 |
| Sumitomo Rubber Industries, Ltd. | 4406 |
2 |
| FEI Company | 894 |
2 |
| KLA-Tencor Corporation | 2550 |
2 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 654 |
2 |
| Nankai University | 214 |
2 |
| Changxin Memory Technologies, Inc. | 4923 |
2 |
| National University Corporation Tokai National Higher Education and Research System | 651 |
2 |
| Exum Instruments | 8 |
2 |
| Nova Ltd. | 160 |
2 |
| Autres propriétaires | 54 |