- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 10/06 - Circuits ou algorithmes à cet effet
Détention brevets de la classe G01Q 10/06
Brevets de cette classe: 259
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Bruker Nano, Inc. | 381 |
39 |
| Infinitesima Limited | 72 |
29 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2440 |
15 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3328 |
14 |
| Shimadzu Corporation | 6337 |
13 |
| Nearfield Instruments B.V. | 61 |
11 |
| National University Corporation Kanazawa University | 256 |
5 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 31 |
4 |
| Universitat Basel | 313 |
4 |
| Ohba, Yusuke | 7 |
4 |
| Massachusetts Institute of Technology | 10239 |
3 |
| Board of Regents, The University of Texas System | 6102 |
3 |
| Anton Paar GmbH | 187 |
3 |
| Cornell University | 3421 |
3 |
| IMEC VZW | 1806 |
3 |
| Imperial Innovations Limited | 549 |
3 |
| SensApex Oy | 14 |
3 |
| Trustees of Tufts College | 976 |
3 |
| UT-Battelle, LLC | 1510 |
3 |
| Hitachi, Ltd. | 16071 |
2 |
| Autres propriétaires | 92 |