- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 70/08 - Caractéristiques des sondes
Détention brevets de la classe G01Q 70/08
Brevets de cette classe: 63
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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| Carl Zeiss SMT GmbH | 2810 |
7 |
| Board of Regents of The Nevada System of Higher Education, on Behalf of The University of Nevada, Reno | 130 |
4 |
| Bruker Nano, Inc. | 335 |
3 |
| CBN Nano Technologies Inc. | 64 |
3 |
| The Regents of the University of California | 19503 |
2 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 323 |
2 |
| Shimadzu Corporation | 6010 |
2 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 32 |
2 |
| Park Systems Corp. | 31 |
2 |
| Stc. UNM | 85 |
2 |
| Quantum Silicon Inc. | 25 |
2 |
| Schlumberger Technology Corporation | 10241 |
1 |
| International Business Machines Corporation | 60095 |
1 |
| Micron Technology, Inc. | 25791 |
1 |
| Hitachi, Ltd. | 15220 |
1 |
| Massachusetts Institute of Technology | 9912 |
1 |
| Aalto University Foundation | 276 |
1 |
| Applied Nanostructures, Inc. | 7 |
1 |
| Cornell University | 3195 |
1 |
| Infinitesima Limited | 65 |
1 |
| Autres propriétaires | 23 |