- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriquesmesure des variables magnétiques
- G01R 31/319 - Matériel de test, c.-à-d. circuits de traitement de signaux de sortie
Détention brevets de la classe G01R 31/319
Brevets de cette classe: 1086
Historique des publications depuis 10 ans
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79
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98
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105
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88
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83
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72
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14
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Advantest Corporation | 1725 |
169 |
| Teradyne, Inc. | 506 |
50 |
| ROHDE & Schwarz GmbH & Co. KG | 1987 |
39 |
| Tektronix, Inc. | 673 |
38 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 152716 |
30 |
| Texas Instruments Incorporated | 19595 |
28 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 46952 |
24 |
| International Business Machines Corporation | 62111 |
21 |
| Intel Corporation | 46680 |
18 |
| Aehr Test Systems | 85 |
16 |
| Micron Technology, Inc. | 27243 |
15 |
| Qualcomm Incorporated | 89620 |
14 |
| Analog Devices, Inc. | 3345 |
13 |
| STMicroelectronics S.r.l. | 3407 |
11 |
| Anritsu Corporation | 423 |
11 |
| Infineon Technologies AG | 8360 |
10 |
| Xcerra Corporation | 89 |
9 |
| Advantest Test Solutions, Inc. | 47 |
9 |
| Changxin Memory Technologies, Inc. | 4923 |
9 |
| SK Hynix Inc. | 12052 |
8 |
| Autres propriétaires | 544 |