- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriquesmesure des variables magnétiques
- G01R 31/319 - Matériel de test, c.-à-d. circuits de traitement de signaux de sortie
Détention brevets de la classe G01R 31/319
Brevets de cette classe: 1091
Historique des publications depuis 10 ans
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62
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80
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66
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101
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105
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89
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85
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73
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35
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Advantest Corporation | 1692 |
166 |
| Teradyne, Inc. | 515 |
49 |
| Tektronix, Inc. | 656 |
40 |
| ROHDE & Schwarz GmbH & Co. KG | 1994 |
39 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 157719 |
30 |
| Texas Instruments Incorporated | 19672 |
28 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48302 |
24 |
| International Business Machines Corporation | 62634 |
20 |
| Intel Corporation | 47106 |
19 |
| Micron Technology, Inc. | 27657 |
15 |
| Analog Devices, Inc. | 3317 |
13 |
| Qualcomm Incorporated | 92196 |
12 |
| Infineon Technologies AG | 8402 |
11 |
| STMicroelectronics S.r.l. | 3377 |
11 |
| Xcerra Corporation | 91 |
11 |
| Aehr Test Systems | 74 |
10 |
| Anritsu Corporation | 428 |
10 |
| SK Hynix Inc. | 12486 |
9 |
| Advantest Test Solutions, Inc. | 49 |
9 |
| Changxin Memory Technologies, Inc. | 4933 |
9 |
| Autres propriétaires | 556 |