- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriques; mesure des variables magnétiques
- G01R 31/319 - Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
Détention brevets de la classe G01R 31/319
Brevets de cette classe: 1017
Historique des publications depuis 10 ans
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63
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62
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80
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95
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99
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103
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83
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79
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2
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| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Advantest Corporation | 1850 |
179 |
| Teradyne, Inc. | 545 |
53 |
| ROHDE & Schwarz GmbH & Co. KG | 1894 |
37 |
| Tektronix, Inc. | 665 |
30 |
| Texas Instruments Incorporated | 19405 |
26 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 138518 |
24 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 40539 |
21 |
| International Business Machines Corporation | 60075 |
20 |
| Intel Corporation | 46097 |
16 |
| Aehr Test Systems | 75 |
14 |
| Qualcomm Incorporated | 81413 |
13 |
| Micron Technology, Inc. | 25756 |
13 |
| STMicroelectronics S.r.l. | 3656 |
11 |
| Analog Devices, Inc. | 3431 |
11 |
| Anritsu Corporation | 385 |
11 |
| Infineon Technologies AG | 8134 |
10 |
| Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | 57 |
9 |
| Changxin Memory Technologies, Inc. | 4919 |
9 |
| SK Hynix Inc. | 10758 |
8 |
| Keithley Instruments, LLC | 74 |
8 |
| Autres propriétaires | 494 |