- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 15/08 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
Détention brevets de la classe G01B 15/08
Brevets de cette classe: 54
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5482 |
5 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1996 |
4 |
| ASML Netherlands B.V. | 7593 |
4 |
| KLA Corporation | 1668 |
3 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 619 |
2 |
| Hexagon Metrology, Inc. | 159 |
2 |
| KLA-Tencor Corporation | 2537 |
2 |
| Nireco Corporation | 50 |
2 |
| Denso Corporation | 24797 |
1 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 46182 |
1 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 46973 |
1 |
| Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | 32504 |
1 |
| Blue Leaf I.P., Inc. | 2783 |
1 |
| Tsinghua University | 6023 |
1 |
| Beamsense Co., Ltd. | 11 |
1 |
| Building Materials Investment Corporation | 142 |
1 |
| Dalian University of Technology | 1539 |
1 |
| EOS GmbH Electro Optical Systems | 417 |
1 |
| FARO Technologies, Inc. | 808 |
1 |
| JFE Steel Corporation | 7074 |
1 |
| Autres propriétaires | 18 |