- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 15/08 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
Détention brevets de la classe G01B 15/08
Brevets de cette classe: 58
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5819 |
5 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1987 |
4 |
| ASML Netherlands B.V. | 7906 |
4 |
| KLA Corporation | 1844 |
3 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 675 |
2 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48248 |
2 |
| Hexagon Metrology, Inc. | 144 |
2 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
2 |
| Nireco Corporation | 50 |
2 |
| Nanoseex Inc. | 10 |
2 |
| Denso Corporation | 25513 |
1 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 47971 |
1 |
| NPX B.V. | 2816 |
1 |
| Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | 33911 |
1 |
| Blue Leaf I.P., Inc. | 2932 |
1 |
| Tsinghua University | 6212 |
1 |
| Beamsense Co., Ltd. | 11 |
1 |
| Building Materials Investment Corporation | 135 |
1 |
| Dalian University of Technology | 1593 |
1 |
| EOS GmbH Electro Optical Systems | 430 |
1 |
| Autres propriétaires | 20 |