- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/00 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou
Détention brevets de la classe G01N 23/00
Brevets de cette classe: 1415
Historique des publications depuis 10 ans
|
105
|
61
|
73
|
57
|
70
|
40
|
52
|
38
|
33
|
11
|
| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5819 |
82 |
| FEI Company | 1052 |
48 |
| Nuctech Company Limited | 1477 |
44 |
| Tsinghua University | 6212 |
29 |
| ASML Netherlands B.V. | 7906 |
21 |
| The Boeing Company | 20160 |
20 |
| Troxler Electronic Laboratories, Inc. | 82 |
18 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
15 |
| The Regents of the University of California | 20720 |
14 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 123 |
14 |
| GE Precision Healthcare LLC | 5780 |
13 |
| Siemens Healthineers AG | 7063 |
12 |
| Toshiba Medical Systems Corporation | 2042 |
11 |
| Shimadzu Corporation | 6337 |
11 |
| General Electric Company | 13888 |
9 |
| Halliburton Energy Services, Inc. | 21320 |
9 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1271 |
9 |
| JEOL Ltd. | 622 |
9 |
| Koninklijke Philips N.V. | 25832 |
8 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48248 |
8 |
| Autres propriétaires | 1011 |