- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 30/02 - Dispositifs d'analyse d’un type autre que la microscopie à sonde à balayage SPM, p. ex. microscope électronique à balayage SEM [Scanning Electron Microscope], spectromètre ou microscope optique
Détention brevets de la classe G01Q 30/02
Brevets de cette classe: 247
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Fractilia, LLC | 28 |
19 |
| Bruker Nano, Inc. | 381 |
18 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3339 |
13 |
| The Regents of the University of California | 20778 |
7 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 11026 |
6 |
| Hitachi, Ltd. | 16113 |
6 |
| Nearfield Instruments B.V. | 61 |
5 |
| JPK Instruments AG | 15 |
4 |
| Lehigh University | 172 |
4 |
| University of Notre Dame du Lac | 610 |
4 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48438 |
3 |
| Olympus Corporation | 12937 |
3 |
| President and Fellows of Harvard College | 6092 |
3 |
| Cedars-Sinai Medical Center | 1207 |
3 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
3 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 692 |
3 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2440 |
3 |
| Horiba France SAS | 77 |
3 |
| Gtheranostics Co., Ltd. | 8 |
3 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 157946 |
2 |
| Autres propriétaires | 132 |