- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 30/06 - Dispositifs d'affichage ou de traitement de données pour compensation d'erreurs
Détention brevets de la classe G01Q 30/06
Brevets de cette classe: 89
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Fractilia, LLC | 28 |
19 |
| Bruker Nano, Inc. | 381 |
11 |
| Nearfield Instruments B.V. | 61 |
10 |
| Shimadzu Corporation | 6337 |
9 |
| Infinitesima Limited | 72 |
5 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3328 |
2 |
| FEI Company | 1052 |
2 |
| JPK Instruments AG | 15 |
2 |
| The Penn State Research Foundation | 1608 |
2 |
| Rutgers, The State University of New Jersey | 1975 |
2 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5819 |
2 |
| LG Chem, Ltd. | 17921 |
1 |
| International Business Machines Corporation | 62621 |
1 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1987 |
1 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 48 |
1 |
| Seagate Technology LLC | 3963 |
1 |
| Massachusetts Institute of Technology | 10239 |
1 |
| University of Florida Research Foundation, Inc. | 4173 |
1 |
| The Governors of the University of Alberta | 875 |
1 |
| Institut Curie | 615 |
1 |
| Autres propriétaires | 14 |