- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/24 - Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p. ex. sondes AFM
Détention brevets de la classe G01Q 60/24
Brevets de cette classe: 325
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Bruker Nano, Inc. | 381 |
28 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48560 |
11 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2445 |
8 |
| The Regents of the University of California | 20815 |
7 |
| Shimadzu Corporation | 6364 |
6 |
| Board of Regents, The University of Texas System | 6141 |
5 |
| A.L.M. Holding Company | 84 |
5 |
| Ergon Asphalt & Emulsions, Inc. | 103 |
5 |
| UT-Battelle, LLC | 1516 |
5 |
| Olympus Corporation | 12920 |
4 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3352 |
4 |
| Korea Advanced Institute of Science and Technology | 4691 |
4 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 31 |
4 |
| Quantum Silicon Inc. | 27 |
4 |
| Molecular Vista, Inc. | 17 |
4 |
| International Business Machines Corporation | 62748 |
3 |
| Hitachi, Ltd. | 16163 |
3 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 681 |
3 |
| Dalian University of Technology | 1600 |
3 |
| Keysight Technologies, Inc. | 1268 |
3 |
| Autres propriétaires | 206 |