- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayageapplications des techniques de sonde à balayage, p. ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 70/14 - Matériaux particuliers
Détention brevets de la classe G01Q 70/14
Brevets de cette classe: 141
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| President and Fellows of Harvard College | 6044 |
6 |
| CBN Nano Technologies Inc. | 59 |
5 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 10881 |
4 |
| Hitachi, Ltd. | 15904 |
4 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2423 |
4 |
| International Business Machines Corporation | 62251 |
3 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 47419 |
3 |
| ASML Netherlands B.V. | 7749 |
3 |
| Eth Zurich | 1313 |
3 |
| Universitat Basel | 308 |
3 |
| Xallent Inc. | 20 |
3 |
| Olympus Corporation | 13014 |
2 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3232 |
2 |
| Bruker Nano, Inc. | 378 |
2 |
| Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (epfl) | 1585 |
2 |
| IMEC | 289 |
2 |
| IMEC VZW | 1759 |
2 |
| Max-Planck-Gesellschaft zur Forderung der Wissenschaften e.V. | 1824 |
2 |
| National University Corporation Nagoya Institute of Technology | 97 |
2 |
| Universite D'angers | 172 |
2 |
| Autres propriétaires | 82 |