- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriquesmesure des variables magnétiques
- G01R 31/27 - Test de dispositifs sans les extraire physiquement du circuit dont ils font partie, p. ex. compensation des effets dus aux éléments environnants
Détention brevets de la classe G01R 31/27
Brevets de cette classe: 254
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 155524 |
10 |
| Intel Corporation | 46767 |
9 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 47782 |
9 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 47749 |
9 |
| Tokyo Electron Limited | 13642 |
9 |
| Infineon Technologies AG | 8388 |
6 |
| Rohm Co., Ltd. | 6777 |
6 |
| Delphi Technologies IP Limited | 291 |
6 |
| Siemens AG | 24122 |
5 |
| ABB Schweiz AG | 7519 |
4 |
| STMicroelectronics (Crolles 2) SAS | 634 |
4 |
| STMicroelectronics International N.V. | 3857 |
4 |
| Adeia Semiconductor Bonding Technologies Inc. | 563 |
4 |
| International Business Machines Corporation | 62353 |
3 |
| Renesas Electronics Corporation | 5873 |
3 |
| Robert Bosch GmbH | 43838 |
3 |
| Teradyne, Inc. | 515 |
3 |
| SambaNova Systems, Inc. | 384 |
3 |
| Advantest Test Solutions, Inc. | 48 |
3 |
| TSE Co., Ltd | 60 |
3 |
| Autres propriétaires | 148 |