- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/22 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux
Détention brevets de la classe G01N 23/22
Brevets de cette classe: 398
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5654 |
23 |
| Nova Measuring Instruments Inc. | 71 |
14 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 286 |
11 |
| Riken | 1696 |
9 |
| KLA-Tencor Corporation | 2523 |
8 |
| FEI Company | 1040 |
7 |
| Chrysos Corporation Limited | 18 |
7 |
| Malvern PANalytical B.V. | 132 |
7 |
| Halliburton Energy Services, Inc. | 21194 |
6 |
| KLA Corporation | 1790 |
6 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 647 |
5 |
| Topcon Corporation | 1164 |
5 |
| The United States of America, as represented by the Secretary of Agriculture | 1136 |
5 |
| ASML Netherlands B.V. | 7745 |
4 |
| Lawrence Livermore National Security, LLC | 1960 |
4 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3220 |
4 |
| Rigaku Corporation | 478 |
4 |
| Veracio Ltd. | 69 |
4 |
| The Regents of the University of California | 20534 |
3 |
| International Business Machines Corporation | 62220 |
3 |
| Autres propriétaires | 259 |