- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/22 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux
Détention brevets de la classe G01N 23/22
Brevets de cette classe: 406
Historique des publications depuis 10 ans
|
39
|
36
|
22
|
26
|
31
|
25
|
10
|
21
|
16
|
5
|
| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5846 |
24 |
| Nova Measuring Instruments Inc. | 68 |
14 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 286 |
11 |
| Riken | 1717 |
10 |
| FEI Company | 1052 |
8 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
8 |
| Chrysos Corporation Limited | 18 |
7 |
| Malvern PANalytical B.V. | 133 |
7 |
| Halliburton Energy Services, Inc. | 21338 |
6 |
| KLA Corporation | 1849 |
6 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 676 |
5 |
| Topcon Corporation | 1185 |
5 |
| The United States of America, as represented by the Secretary of Agriculture | 1157 |
5 |
| Veracio Ltd. | 73 |
5 |
| ASML Netherlands B.V. | 7925 |
4 |
| Lawrence Livermore National Security, LLC | 1973 |
4 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3332 |
4 |
| Rigaku Corporation | 497 |
4 |
| The Regents of the University of California | 20745 |
3 |
| International Business Machines Corporation | 62634 |
3 |
| Autres propriétaires | 263 |