- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2206 - Combinaison de plusieurs mesures, l'une au moins étant celle d’une émission secondaire, p. ex. combinaison d’une mesure d’électrons secondaires [ES] et d’électrons rétrodiffusés [ER]
Détention brevets de la classe G01N 23/2206
Brevets de cette classe: 132
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Canon Anelva Corporation | 690 |
11 |
| FEI Company | 1015 |
10 |
| ASML Netherlands B.V. | 7649 |
5 |
| HORIBA, Ltd. | 838 |
5 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 636 |
4 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3146 |
3 |
| Bruker Nano GmbH | 67 |
3 |
| Orexplore AB | 11 |
3 |
| Shanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | 1998 |
3 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5564 |
3 |
| Enersoft Inc. | 47 |
2 |
| National Institute for Materials Science | 1095 |
2 |
| Riken | 1702 |
2 |
| Topcon Corporation | 1137 |
2 |
| Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | 377 |
2 |
| Advanced Manufacturing LLC | 4 |
2 |
| Global Physical Asset Management, Inc. | 6 |
2 |
| KLA Corporation | 1721 |
2 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 285 |
2 |
| Schlumberger Technology Corporation | 11238 |
1 |
| Autres propriétaires | 63 |