- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriquesmesure des variables magnétiques
- G01R 31/26 - Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
Détention brevets de la classe G01R 31/26
Brevets de cette classe: 4986
Historique des publications depuis 10 ans
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306
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349
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293
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315
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293
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304
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304
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299
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280
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183
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Advantest Corporation | 1672 |
172 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48760 |
133 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 158842 |
123 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 48287 |
122 |
| Tokyo Electron Limited | 13920 |
120 |
| Texas Instruments Incorporated | 19639 |
113 |
| Infineon Technologies AG | 8418 |
94 |
| International Business Machines Corporation | 62769 |
67 |
| Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 440 |
65 |
| Samsung Display Co., Ltd. | 39012 |
50 |
| Fuji Electric Co., Ltd. | 5526 |
50 |
| Intel Corporation | 46449 |
44 |
| Robert Bosch GmbH | 44291 |
43 |
| SK Hynix Inc. | 12640 |
42 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4703 |
42 |
| Enplas Corporation | 890 |
40 |
| Renesas Electronics Corporation | 5860 |
39 |
| Changxin Memory Technologies, Inc. | 4933 |
38 |
| Teradyne, Inc. | 521 |
34 |
| Boe Technology Group Co., Ltd. | 44549 |
31 |
| Autres propriétaires | 3524 |