- Sections
- G - Physique
- G21K - Techniques non prévues ailleurs pour manipuler des particules ou des rayonnements ionisantsdispositifs d'irradiationmicroscopes à rayons gamma ou à rayons x
- G21K 7/00 - Microscopes à rayons gamma ou à rayons X
Détention brevets de la classe G21K 7/00
Brevets de cette classe: 309
Historique des publications depuis 10 ans
|
17
|
15
|
10
|
13
|
9
|
11
|
11
|
8
|
7
|
2
|
| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5644 |
45 |
| FEI Company | 1035 |
24 |
| Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc. | 114 |
21 |
| California Institute of Technology | 4010 |
14 |
| Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | 377 |
9 |
| ASML Netherlands B.V. | 7723 |
8 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3206 |
7 |
| Canon Anelva Corporation | 686 |
6 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 646 |
5 |
| Bruker Nano, Inc. | 358 |
5 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 157 |
5 |
| JEOL Ltd. | 613 |
5 |
| Lawrence Livermore National Security, LLC | 1957 |
4 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3794 |
4 |
| Hologic, Inc. | 1162 |
4 |
| KLA-Tencor Technologies Corporation | 137 |
4 |
| Osaka University | 3315 |
4 |
| Canon Kabushiki Kaisha | 7208 |
4 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 123 |
4 |
| Hitachi, Ltd. | 15877 |
3 |
| Autres propriétaires | 124 |