- Sections
- G - Physique
- G21K - Techniques non prévues ailleurs pour manipuler des particules ou des rayonnements ionisantsdispositifs d'irradiationmicroscopes à rayons gamma ou à rayons x
- G21K 7/00 - Microscopes à rayons gamma ou à rayons X
Détention brevets de la classe G21K 7/00
Brevets de cette classe: 306
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5694 |
43 |
| FEI Company | 1052 |
24 |
| Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc. | 115 |
21 |
| California Institute of Technology | 4023 |
14 |
| Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | 377 |
9 |
| ASML Netherlands B.V. | 7785 |
8 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3258 |
7 |
| Canon Anelva Corporation | 686 |
6 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 654 |
5 |
| Bruker Nano, Inc. | 379 |
5 |
| Hologic, Inc. | 1162 |
5 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 157 |
5 |
| JEOL Ltd. | 620 |
5 |
| Lawrence Livermore National Security, LLC | 1961 |
4 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3794 |
4 |
| KLA-Tencor Technologies Corporation | 128 |
4 |
| Osaka University | 3289 |
4 |
| Canon Kabushiki Kaisha | 7258 |
4 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 123 |
4 |
| Massachusetts Institute of Technology | 10204 |
3 |
| Autres propriétaires | 122 |