- Sections
- G - Physique
- G21K - Techniques non prévues ailleurs pour manipuler des particules ou des rayonnements ionisantsdispositifs d'irradiationmicroscopes à rayons gamma ou à rayons x
- G21K 7/00 - Microscopes à rayons gamma ou à rayons X
Détention brevets de la classe G21K 7/00
Brevets de cette classe: 321
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5418 |
51 |
| FEI Company | 966 |
24 |
| Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc. | 110 |
21 |
| California Institute of Technology | 3988 |
14 |
| Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | 376 |
9 |
| ASML Netherlands B.V. | 7508 |
8 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3043 |
7 |
| Canon Anelva Corporation | 683 |
6 |
| KLA-Tencor Technologies Corporation | 179 |
6 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 617 |
5 |
| Bruker Nano, Inc. | 347 |
5 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 157 |
5 |
| JEOL Ltd. | 597 |
5 |
| Lawrence Livermore National Security, LLC | 1942 |
4 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3794 |
4 |
| Ebara Corporation | 2205 |
4 |
| Hologic, Inc. | 1141 |
4 |
| Osaka University | 3393 |
4 |
| Canon Kabushiki Kaisha | 7113 |
4 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 124 |
4 |
| Autres propriétaires | 127 |