- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/26 - Microscopes électroniques ou ioniquesTubes à diffraction d'électrons ou d'ions
Détention brevets de la classe H01J 37/26
Brevets de cette classe: 1956
Historique des publications depuis 10 ans
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88
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5995 |
268 |
| FEI Company | 1063 |
249 |
| ASML Netherlands B.V. | 8045 |
131 |
| JEOL Ltd. | 627 |
88 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1305 |
63 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 194 |
45 |
| KLA-Tencor Corporation | 2514 |
42 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 690 |
36 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1985 |
33 |
| Protochips, Inc. | 80 |
32 |
| Hitachi, Ltd. | 16221 |
29 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 287 |
28 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3377 |
25 |
| The Regents of the University of California | 20960 |
23 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 157 |
19 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 159473 |
17 |
| NuFlare Technology, Inc. | 931 |
17 |
| Applied Materials, Inc. | 20625 |
14 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 691 |
13 |
| Universiteit Antwerpen | 418 |
13 |
| Autres propriétaires | 771 |