- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/26 - Microscopes électroniques ou ioniquesTubes à diffraction d'électrons ou d'ions
Détention brevets de la classe H01J 37/26
Brevets de cette classe: 1851
Historique des publications depuis 10 ans
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93
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| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5418 |
262 |
| FEI Company | 966 |
222 |
| ASML Netherlands B.V. | 7508 |
112 |
| JEOL Ltd. | 597 |
86 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1225 |
58 |
| KLA-Tencor Corporation | 2543 |
42 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1996 |
33 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 617 |
33 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 142 |
32 |
| Protochips, Inc. | 78 |
31 |
| Hitachi, Ltd. | 15612 |
26 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 285 |
26 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3043 |
23 |
| The Regents of the University of California | 20172 |
21 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 157 |
20 |
| NuFlare Technology, Inc. | 871 |
17 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 148173 |
15 |
| Applied Materials, Inc. | 19031 |
14 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 684 |
14 |
| Universiteit Antwerpen | 383 |
13 |
| Autres propriétaires | 751 |