- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/26 - Microscopes électroniques ou ioniquesTubes à diffraction d'électrons ou d'ions
Détention brevets de la classe H01J 37/26
Brevets de cette classe: 1894
Historique des publications depuis 10 ans
|
130
|
121
|
145
|
117
|
132
|
143
|
130
|
121
|
117
|
25
|
| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5646 |
261 |
| FEI Company | 1037 |
239 |
| ASML Netherlands B.V. | 7732 |
118 |
| JEOL Ltd. | 614 |
88 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1266 |
59 |
| KLA-Tencor Corporation | 2524 |
42 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 172 |
41 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1992 |
33 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 645 |
33 |
| Protochips, Inc. | 79 |
31 |
| Hitachi, Ltd. | 15881 |
28 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 286 |
28 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3210 |
24 |
| The Regents of the University of California | 20506 |
22 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 157 |
19 |
| NuFlare Technology, Inc. | 907 |
17 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 153573 |
16 |
| Applied Materials, Inc. | 19999 |
14 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 687 |
13 |
| Universiteit Antwerpen | 408 |
13 |
| Autres propriétaires | 755 |