- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analoguesmesure des anglesmesure des superficiesmesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 15/04 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p. ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons pour mesurer des contours ou des courbes
Détention brevets de la classe G01B 15/04
Brevets de cette classe: 369
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1987 |
62 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5857 |
54 |
| KLA Corporation | 1856 |
12 |
| Kioxia Corporation | 10823 |
10 |
| Nikon Corporation | 7226 |
9 |
| Vega Grieshaber KG | 772 |
7 |
| Wadeco Co., Ltd. | 19 |
6 |
| Applied Materials, Inc. | 20406 |
5 |
| Tokyo Electron Limited | 13824 |
5 |
| Tsinghua University | 6217 |
5 |
| Volume Graphics GmbH | 79 |
5 |
| Werth Messtechnik GmbH | 48 |
5 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 679 |
4 |
| Rigaku Corporation | 498 |
4 |
| Vayyar Imaging Ltd. | 159 |
4 |
| Topgolf Callaway Brands Corp. | 721 |
4 |
| International Business Machines Corporation | 62671 |
3 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48438 |
3 |
| Omron Corporation | 7370 |
3 |
| FEI Company | 1054 |
3 |
| Autres propriétaires | 156 |