- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2251 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’électrons incidents, p. ex. la microscopie électronique à balayage [SEM]
Détention brevets de la classe G01N 23/2251
Brevets de cette classe: 762
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5455 |
98 |
| ASML Netherlands B.V. | 7573 |
75 |
| KLA Corporation | 1655 |
39 |
| NuFlare Technology, Inc. | 881 |
37 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 620 |
24 |
| FEI Company | 981 |
24 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 148924 |
20 |
| Applied Materials, Inc. | 19204 |
18 |
| KLA-Tencor Corporation | 2539 |
17 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3080 |
14 |
| Saudi Arabian Oil Company | 13622 |
11 |
| TASMIT, Inc. | 67 |
9 |
| Techinsights Inc. | 94 |
8 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1225 |
7 |
| JEOL Ltd. | 602 |
7 |
| LG Chem, Ltd. | 17682 |
6 |
| JFE Steel Corporation | 7044 |
6 |
| National Institute for Materials Science | 1100 |
6 |
| Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 136 |
6 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 46069 |
5 |
| Autres propriétaires | 325 |