- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2251 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’électrons incidents, p. ex. la microscopie électronique à balayage [SEM]
Détention brevets de la classe G01N 23/2251
Brevets de cette classe: 775
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5578 |
99 |
| ASML Netherlands B.V. | 7673 |
77 |
| KLA Corporation | 1754 |
40 |
| NuFlare Technology, Inc. | 898 |
37 |
| FEI Company | 1021 |
26 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 636 |
24 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 151726 |
20 |
| Applied Materials, Inc. | 19717 |
19 |
| KLA-Tencor Corporation | 2525 |
17 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3169 |
14 |
| Saudi Arabian Oil Company | 13865 |
10 |
| TASMIT, Inc. | 68 |
10 |
| Techinsights Inc. | 95 |
8 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1242 |
7 |
| JEOL Ltd. | 614 |
7 |
| LG Chem, Ltd. | 17745 |
6 |
| JFE Steel Corporation | 7199 |
6 |
| Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 142 |
6 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 46661 |
5 |
| Nikon Corporation | 7266 |
5 |
| Autres propriétaires | 332 |