- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/256 - Tubes analyseurs à spot par faisceaux électroniques ou ioniquesMicro-analyseurs utilisant des faisceaux de balayage
Détention brevets de la classe H01J 37/256
Brevets de cette classe: 68
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| FEI Company | 1052 |
10 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5846 |
8 |
| Bruker Nano GmbH | 67 |
4 |
| Axcelis Technologies, Inc. | 424 |
3 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
3 |
| University of Connecticut | 881 |
3 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 11023 |
2 |
| Fibics Incorporated | 22 |
2 |
| Gatan, Inc. | 112 |
2 |
| New York Structural Biology Center | 11 |
2 |
| Hitachi, Ltd. | 16094 |
1 |
| Applied Materials, Inc. | 20375 |
1 |
| Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | 1187 |
1 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 676 |
1 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48302 |
1 |
| Massachusetts Institute of Technology | 10251 |
1 |
| President and Fellows of Harvard College | 6094 |
1 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3332 |
1 |
| Arkema Inc. | 1061 |
1 |
| Carl Zeiss NTS GmbH | 26 |
1 |
| Autres propriétaires | 19 |