- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/31 - Tubes à faisceau électronique ou ionique destinés aux traitements localisés d'objets pour couper ou perforer
Détention brevets de la classe H01J 37/31
Brevets de cette classe: 116
Historique des publications depuis 10 ans
|
10
|
9
|
13
|
19
|
11
|
13
|
7
|
6
|
3
|
1
|
| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| FEI Company | 1037 |
13 |
| NuFlare Technology, Inc. | 907 |
8 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5646 |
7 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 47211 |
5 |
| JEOL Ltd. | 614 |
5 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 286 |
5 |
| ASML Netherlands B.V. | 7732 |
4 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1266 |
4 |
| Gatan, Inc. | 112 |
4 |
| Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | 1198 |
3 |
| Tel Manufacturing and Engineering of America, Inc. | 144 |
3 |
| Shanghai Huali Integrated Circuit Corporation | 223 |
3 |
| Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | 4015 |
2 |
| Applied Materials, Inc. | 19999 |
2 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 645 |
2 |
| Board of Regents, The University of Texas System | 6023 |
2 |
| Tsinghua University | 6101 |
2 |
| Axcelis Technologies, Inc. | 426 |
2 |
| E.A. Fischione Instruments, Inc. | 14 |
2 |
| NexGen Semi Holding, Inc. | 23 |
2 |
| Autres propriétaires | 36 |